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3D Super-Resolution Reconstruction Using Microsphere-Assisted Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 22, 页码: 1783-1786
作者:
Xie, Zhongye
;
Hu, Song
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
microsphere
Fast structured illumination microscopy with reflectance disturbance resistibility and improved accuracy
期刊论文
Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 15, 页码: 21508-21519
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
He, Yu
;
Liu, Junbo
;
Feng, Jinhua
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
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提交时间:2021/05/06
Optical sectioning microscopy for multilayer structure with micro-scale air gaps measurement
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 141-144
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Wei, Haojie
;
Liu, Junbo
;
He, Yu
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
thickness measurement
Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy
会议论文
Chengdu, China, June 26, 2018 - June 29, 2018
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Yang, Kejun
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2021/05/06
Computational-weighted Fourier single-pixel imaging via binary illumination
期刊论文
OPTICS EXPRESS, 2018, 卷号: 26, 期号: 13, 页码: 16547-16559
作者:
Huang, Jian
;
Shi, Dongfeng
;
Yuan, Kee
;
Hu, Shunxing
;
Wang, Yingjian
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2019/08/23
Digital devices
Fourier transforms
Image enhancement
Image reconstruction
Object detection
Surface and thickness measurement of transparent thin-film layers utilizing modulation-based structured-illumination microscopy
期刊论文
OPTICS EXPRESS, 2018, 卷号: 26, 期号: 3, 页码: 2944-2953
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Zhou, Yi
;
Deng, Qinyuan
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/08/23
Digital devices
Film thickness
Interferometry
Modulation
Thickness measurement
Generation and Display System of Measurement Matrix Based on DMD
期刊论文
Journal of Beijing Institute of Technology (English Edition), 2018, 卷号: 27, 期号: 4, 页码: 493-502
作者:
Gu, Wenzhao
;
Zheng, Fu
;
Zhai, Guangjie
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2019/06/26
Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy
会议论文
Chengdu, PEOPLES R CHINAChengdu, PEOPLES R CHINA, JUN 26-29, 2018JUN 26-29, 2018
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Yang, Kejun
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/08/23
thin films
Fourier transform
microscopy
surface topography
digital micro-mirror devices
modulation
Freeform lens for two beams collimating of a spectrometer source
期刊论文
Guangzi Xuebao/Acta Photonica Sinica, 2016, 卷号: 45, 期号: 8
作者:
Wang, X.-D.
;
H. Liu
;
Y.-P. Li
;
X.-Q. Quan and Z.-W. Lu
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2017/09/11
Freeform lens collimating spectrum-folded Hadamard transform near-infrared spectrometer
期刊论文
Optics Communications, 2016, 卷号: 380, 页码: 161-167
作者:
Wang XD(王晓朵)
;
Liu H(刘华)
;
Juschkin, Larissa
;
Li YP(李云鹏)
;
Xu JL(许家林)
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2016/07/22
Near-infrared Spectrometer
Hadamard transform
Freeform surface
Digital micro-mirror devices
Grating
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