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浏览/检索结果: 共14条，第1-10条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Large Gradient Micro-Structure Topography Measurement with Multi-Angle Stitching Digital Holographic Microscope 期刊论文 Applied Sciences-Basel, 2020, 卷号: 10, 期号: 3, 页码: 10176110-1-12 作者:  Jin, Chuan;  He, Yu;  Tang, Yan;  Xie, Zhongye;  Zhao, Lixin 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2021/05/11 Multi-angle Stitching  Digital Holography Microscope  Large Gradient Micro-structure  Topography Measurement   Efficient Profilometry Using Tilted Grating Scanning Structured Illumination Microscopy 期刊论文 IEEE Photonics Technology Letters, 2020, 卷号: 32, 期号: 9, 页码: 522-525 作者:  Wei, Haojie;  Hu, Song;  Tang, Yan;  Xie, Zhongye;  Liu, Xi 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2021/05/11 Selecting a Proper Microsphere to Combine Optical Trapping with Microsphere-Assisted Microscopy 期刊论文 Applied Sciences-Basel, 2020, 卷号: 10, 期号: 3, 页码: 10093127-1-11 作者:  Liu, Xi;  Hu, Song;  Tang, Yan;  Xie, Zhongye;  Liu, Junbo 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2021/05/11 Optical Trapping  Super-resolution Microscopy  Microsphere  Photonic Nanojet   3D Super-Resolution Reconstruction Using Microsphere-Assisted Structured Illumination Microscopy 期刊论文 IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 22, 页码: 1783-1786 作者:  Xie, Zhongye;  Hu, Song;  Tang, Yan;  Liu, Xi;  Liu, Junbo 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2021/05/06 Microscopy  surface topography  microsphere   Fast surface profilometry utilizing structured illumination microscopy based on the time-domain phase-shift technique 期刊论文 Applied Optics, 2019, 卷号: 58, 期号: 30, 页码: 8180-8186 作者:  Liu, Lei;  Tang, Yan;  Xie, Zhongye;  Feng, Jinhua;  He, Yu 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2021/05/06 Fast structured illumination microscopy with reflectance disturbance resistibility and improved accuracy 期刊论文 Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 15, 页码: 21508-21519 作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  He, Yu;  Liu, Junbo;  Feng, Jinhua 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2021/05/06 Profilometry with Enhanced Accuracy Using Differential Structured Illumination Microscopy 期刊论文 IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 13, 页码: 1017-1020 作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  Liu, Xi;  Liu, Junbo;  He, Yu 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2021/05/06 Microscopy  surface topography  thickness measurement   Accurate surface profilometry using differential optical sectioning microscopy with structured illumination 期刊论文 Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 8, 页码: 11721-11733 作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  Feng, Jinhua;  Liu, Junbo;  Hu, Song 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2021/05/06 Optical sectioning microscopy for multilayer structure with micro-scale air gaps measurement 期刊论文 IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 141-144 作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  Wei, Haojie;  Liu, Junbo;  He, Yu 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2021/05/06 Microscopy  surface topography  thickness measurement   Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy 会议论文 Chengdu, China, June 26, 2018 - June 29, 2018 作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  Liu, Xi;  Yang, Kejun;  Hu, Song 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2021/05/06