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Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:
Wang, Shu
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
He, Ze
;
Huang, Zhiqin
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2021/12/08
SerDes
SRAM-based FPGA
Single Event Upset
Single Event Functional Interrupt
CMOS图像传感器单粒子效应及加固技术研究进展
期刊论文
核技术, 2020, 卷号: 43, 期号: 1, 页码: 50-58
作者:
蔡毓龙
;
李豫东
;
文林
;
郭旗
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2020/03/13
CMOS图像传感器
单粒子效应
抗辐射加固技术
空间辐射
SEE Sensitivity Evaluation for Commercial 16 nm SRAM-FPGA
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 12, 页码: 12
作者:
Cai, Chang
;
Gao, Shuai
;
Zhao, Peixiong
;
Yu, Jian
;
Zhao, Kai
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2022/01/19
field-programmable gate arrays
embedded block memory
single event
fault tolerance
radiation effect
Design and verification of universal evaluation system for single event effect sensitivity measurement in very-large-scale integrated circuits
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2019, 卷号: 16, 期号: 10, 页码: 6
作者:
Xu, Liewei
;
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Ke, Lingyun
;
Yu, Jun
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浏览/下载:67/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
single event effects
heavy ions
irradiation
Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99
作者:
Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ]
;
Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ]
;
Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ]
收藏
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浏览/下载:127/0
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提交时间:2019/01/03
CMOS active pixel sensor (APS)
SEE
Heavy ion
Experimental study about single event functional interrupt of ferroelectric random access memory induced by 30-90 MeV proton
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2018, 卷号: 67
作者:
Ju An-An
;
Guo Hong-Xia
;
Zhang Feng-Qi
;
Guo Wei-Xin
;
Ouyang Xiao-Ping
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/11/19
single event functional interrupt
ferroelectric random access memory
middle energy proton
Single Event Effects in COTS Ferroelectric RAM Technologies
会议论文
作者:
Zhang, Zhangang
;
Lei, Zhifeng
;
Yang, Zhenlei
;
Wang, Xiaohui
;
Wang, Bin
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2018/08/20
Single Event Effects Testing of Xilinx Zynq-7010 SoC with Pu-239 Alpha Irradiation
会议论文
作者:
Du, Xuecheng
;
Liu, Shuhuan
;
He, Chaohui
;
Du, Xin
;
Li, Yonghong
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/03
Single Event Functional Interrupt (SEFI)
Single Event Effects (SEE)
System on chip (SoC)
SEU Mitigation Strategies for SRAM-based FPGA
会议论文
International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2011 - Space Exploration Technologies and Applications, Beijing, PEOPLES R CHINA, MAY 24-26, 2011
作者:
Luo Pei
;
Zhang Jian
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2014/12/15
SRAM-based FPGA
SEU
scrub
reliability
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