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科研机构
近代物理研究所 [6]
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新疆理化技术研究所 [1]
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期刊论文 [8]
发表日期
2022 [1]
2021 [2]
2020 [1]
2019 [3]
2014 [1]
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SEU sensitivity and large spacing TMR efficiency of Kintex-7 and Virtex-7 FPGAs
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2022, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 2
作者:
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
Fan, Xue
;
Liu, Tianqi
;
Ke, Lingyun
收藏
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浏览/下载:65/0
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提交时间:2021/12/09
Design and verification of multiple SEU mitigated circuits on SRAM-based FPGA system
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 7
作者:
Yu, Jian
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
Gao, Shuai
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2022/01/24
Heavy ions
Irradiation
Hardened
Single event upset
Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:
Wang, Shu
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
He, Ze
;
Huang, Zhiqin
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2021/12/08
SerDes
SRAM-based FPGA
Single Event Upset
Single Event Functional Interrupt
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 1, 页码: 374-381
作者:
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Zhao, Peixiong
;
Fan, Xue
;
Huang, Hongyang
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2022/01/19
D filp-flops (DFFs)
heavy ions
radiation hardening
single-event upsets (SEUs)
ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon on insulator (UTBB FDSOI)
SEE Sensitivity Evaluation for Commercial 16 nm SRAM-FPGA
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 12, 页码: 12
作者:
Cai, Chang
;
Gao, Shuai
;
Zhao, Peixiong
;
Yu, Jian
;
Zhao, Kai
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2022/01/19
field-programmable gate arrays
embedded block memory
single event
fault tolerance
radiation effect
Design and verification of universal evaluation system for single event effect sensitivity measurement in very-large-scale integrated circuits
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2019, 卷号: 16, 期号: 10, 页码: 6
作者:
Xu, Liewei
;
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Ke, Lingyun
;
Yu, Jun
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浏览/下载:67/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
single event effects
heavy ions
irradiation
Total Ionizing Dose Responses of Forward Body Bias Ultra-Thin Body and Buried Oxide FD-SOI Transistors
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 4, 页码: 702-709
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ]
;
Xu, LW (Xu, Liewei)[ 2 ]
;
Ning, BX (Ning, Bingxu)[ 3 ]
;
Zhao, K (Zhao, Kai)[ 3 ]
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浏览/下载:98/0
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提交时间:2019/05/14
Back-gate biasing
forward body bias (FBB)
total ionizing dose (TID)
ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon-on-insulator (UTBB FD-SOI)
AMPK regulates histone H2B O-GlcNAcylation
期刊论文
NUCLEIC ACIDS RESEARCH, 2014, 卷号: 42, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 5594-5604
作者:
Xu, Qiuran
;
Yang, Caihong
;
Du, Yu
;
Chen, Yali
;
Liu, Hailong
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/12/03
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