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浏览/检索结果: 共24条，第1-10条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 High refractive index TiO2 film deposited by electron beam evaporation 期刊论文 surf. eng., 2009, 卷号: 25, 期号: 3, 页码: 257, 260 姚建可; Huang H. L.; Ma J. Y.; Jin Y. X.; Zhao Y. A.; Shao J. D.; He H. B.; Yi K.; Fan Z. X.; Zhang F.; Wu Z. Y. 收藏  |  浏览/下载：673/167  |  提交时间：2009/09/22 Crystal seed  Rutile TiO2 film  High refractive index  Electron beam evaporation   Effects of deposition rates on laser damage threshold of TiO2/SiO2 high reflectors 期刊论文 appl. surf. sci., 2009, 卷号: 255, 期号: 9, 页码: 4733, 4737 姚建可; Xu Cheng; 麻健勇; Fang Ming; 范正修; Jin Yunxia; Zhao Yuanan; 贺洪波; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：722/164  |  提交时间：2009/09/22 TiO2/SiO2 high reflectors  Laser damage  Deposition rate  Electron beam evaporation  Raman spectra  Energy dispersive X-ray analysis   Investigation on thermal stability of TiO2 films for application at high temperature 期刊论文 surf. eng., 2009, 卷号: 25, 期号: 2, 页码: 116, 119 姚建可; Huang H. L.; Xu C.; Ma J. Y.; He H. B.; Shao J. D.; Jin Y. X.; Zhao Y. A.; Fan Z. X.; Zhang F.; Wu Z. Y. 收藏  |  浏览/下载：776/220  |  提交时间：2009/09/22 TiO2/SiO2 high reflectors  High temperature thermal stability  Scattering  Absorption  Refractive index  Crack   Influence of substoichiometer on the laser-induced damage characters of HfO2 thin films 期刊论文 appl. surf. sci., 2009, 卷号: 255, 期号: 8, 页码: 4646, 4649 Zhang Dongping; Wang Congjuan; Fan Ping; Cai Xingmin; Liang Guangxing; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：749/142  |  提交时间：2009/09/22 Thin film  Dual-ion-beam sputtering  Substoichiometer   低损耗193nm反射膜的设计 期刊论文 光学精密工程, 2008, 卷号: 16, 期号: 3, 页码: 397 尚淑珍; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1054/199  |  提交时间：2009/09/22 反射膜  Absorption loss  电场强度  Electricity field intensity  吸收损耗  High reflectance  散射损耗  HR coating  HR mirror  Outer layer  Scattering loss   SiO_2薄膜折射率的准确拟合分析 期刊论文 中国激光, 2008, 卷号: 35, 期号: 5, 页码: 760, 763 王胭脂; 张伟丽; 范正修; 黄建兵; 晋云霞; 姚建可; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1271/128  |  提交时间：2009/09/22 词薄膜  SiO2折射率  包络法  准确拟合  Accurately fitting  Envelop method  Optical-  Refractive index of SiO2  Thin films   Y2O3 stabilized ZrO2 thin films deposited by electron-beam evaporation: Optical properties, structure and residual stresses 期刊论文 vacuum, 2008, 卷号: 83, 期号: 2, 页码: 366, 371 Xiao Qi-Ling; Xu Cheng; 邵淑英; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：644/164  |  提交时间：2009/09/22 YSZ thin films  Residual stress  Electron-beam evaporation  Refractive index  Structural properties   Influence of different substrates on laser induced damage thresholds at 1064 nm of Ta2O5 films 期刊论文 chin. phys. lett., 2008, 卷号: 25, 期号: 4, 页码: 1321, 1324 Xu Cheng; 麻健勇; Jin Yun-Xia; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：702/151  |  提交时间：2009/09/22 OPTICAL-PROPERTIES  THIN-FILMS  COATINGS   反射型导模共振滤波器设计 期刊论文 物理学报, 2008, 卷号: 57, 期号: 2, 页码: 827, 832 麻健勇; 刘世杰; 魏朝阳; 许程; 晋云霞; 赵元安; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：920/161  |  提交时间：2009/09/22 waveguide resonance  planar waveguide  Fourier modal method  narrow-band filtering   Influence of ZrO2 in HfO2 on reflectance of HfO2/SiO2 multilayer at 248 nm prepared by electron-beam evaporation 期刊论文 appl. surf. sci., 2008, 卷号: 254, 期号: 15, 页码: 4864, 4867 Yuan Jingmei; Yuan Lei; 贺洪波; Yi Kui; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：661/148  |  提交时间：2009/09/22 HfO2/SiO2 multilayer  ZrO2 impurity  reflectance