×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [12]
物理研究所 [2]
新疆理化技术研究所 [2]
清华大学 [1]
兰州大学 [1]
苏州纳米技术与纳米仿... [1]
更多...
内容类型
期刊论文 [22]
其他 [2]
专利 [1]
外文期刊 [1]
学位论文 [1]
发表日期
2017 [1]
2016 [2]
2015 [1]
2014 [2]
2013 [3]
2012 [3]
更多...
学科主题
932.1 high... [1]
半导体材料 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共27条,第1-10条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
EAST-NBI抑制极电源IGBT串联技术的研究
期刊论文
核技术, 2017, 卷号: 40
作者:
张亚兵
;
刘智民
;
蒋才超
;
刘胜
;
陈世勇
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2020/10/26
抑制极电源
绝缘栅双极型晶体管串联
电阻电容二极管
均压
Enhanced channel hot carrier effect of 0.13 mu m silicon-on-insulator N metal-oxide-semiconductor field-effect transistor induced by total ionizing dose effect
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 9
作者:
Zhou, H (Zhou Hang)
;
Zheng, QW (Zheng Qi-Wen)
;
Cui, JW (Cui Jiang-Wei)
;
Yu, XF (Yu Xue-Feng)
;
Guo, Q (Guo Qi)
收藏
  |  
浏览/下载:28/0
  |  
提交时间:2016/12/12
silicon-on-insulator
ionizing radiation
hot carriers
Two-dimensional physically based semi-analytical model of source/drain series resistance in MOSFETs
期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2016, 卷号: Vol.55 No.1
作者:
Hu,Pengfei
;
He,Pei
;
Ke,Daoming
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2019/04/22
EFFECTIVE CHANNEL-LENGTH
NANOMETER REGIME
LDD MOSFETS
EXTRACTION
GATE
BIAS
16.8 A/600 V AlGaN/GaN MIS-HEMTs employing LPCVD-Si3N4 as gate insulator
期刊论文
ELECTRONICS LETTERS, 2015, 卷号: 51, 期号: 15, 页码: 2
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, XD(于国浩)
;
Tan, SX
;
Wu, DD(吴冬东)
收藏
  |  
浏览/下载:43/0
  |  
提交时间:2015/12/31
A novel method for measuring parasitic resistance in high electron mobility transistors
期刊论文
固体电子学, 2014
Yang, Zhen
;
Wang, Jinyan
;
Li, Xiaoping
;
Zhang, Bo
;
Zhao, Jian
;
Xu, Zhe
;
Wang, Maojun
;
Yu, Min
;
Yang, Zhenchuan
;
Wu, Wengang
;
Zhang, Yuming
;
Zhang, Jincheng
;
Ma, Xiaohua
;
Hao, Yue
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2015/11/10
Parasitic resistance
High-electron mobility transistor (HEMT)
Floating-gate
Analysis of AlGaN/GaN high electron mobility transistors failure mechanism under semi-on DC stress
期刊论文
journal of semiconductors, 2014
Yang, Zhen
;
Wang, Jinyan
;
Xu, Zhe
;
Li, Xiaoping
;
Zhang, Bo
;
Wang, Maojun
;
Yu, Min
;
Zhang, Jincheng
;
Ma, Xiaohua
;
Li, Yongbing
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2015/11/10
Improved interfacial and electrical properties of vanadyl-phthalocyanine metal-insulator-semiconductor devices with silicon nitride as gate insulator
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2013, 卷号: 103, 期号: 24
作者:
Wang, Lijuan
;
Li, Yiping
;
Song, Xiaofeng
;
Liu, Xin
;
Zhang, Long
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2019/04/09
基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:
席善斌
收藏
  |  
浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2013/05/31
低剂量率辐射损伤增强效应
栅控晶体管
电荷分离
损伤机理
竞争模型
Improved interfacial and electrical properties of vanadyl-phthalocyanine metal-insulator-semiconductor devices with silicon nitride as gate insulator
期刊论文
applied physics letters, 2013, 卷号: 103, 期号: 24, 页码: 文献号:243302
Wang LJ
;
Li YP
;
Song XF
;
Liu X
;
Zhang L
;
Yan DH
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2014/04/14
FIELD-EFFECT TRANSISTORS
THIN-FILM-TRANSISTOR
ORGANIC SEMICONDUCTOR
CAPACITANCE
Determination of the series resistance under the Schottky contacts of AlGaN/AlN/GaN Schottky barrier diodes
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2012, 卷号: 21, 期号: 1
Cao, ZF
;
Lin, ZJ
;
Lu, YJ
;
Luan, CB
;
Yu, YX
;
Chen, H
;
Wang, ZG
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2013/09/17
BREAKDOWN VOLTAGE
GAN
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace