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光电技术研究所 [15]
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期刊论文 [11]
会议论文 [4]
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2019 [4]
2018 [2]
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Large Gradient Micro-Structure Topography Measurement with Multi-Angle Stitching Digital Holographic Microscope
期刊论文
Applied Sciences-Basel, 2020, 卷号: 10, 期号: 3, 页码: 10176110-1-12
作者:
Jin, Chuan
;
He, Yu
;
Tang, Yan
;
Xie, Zhongye
;
Zhao, Lixin
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2021/05/11
Multi-angle Stitching
Digital Holography Microscope
Large Gradient Micro-structure
Topography Measurement
Efficient Profilometry Using Tilted Grating Scanning Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2020, 卷号: 32, 期号: 9, 页码: 522-525
作者:
Wei, Haojie
;
Hu, Song
;
Tang, Yan
;
Xie, Zhongye
;
Liu, Xi
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  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2021/05/11
3D Super-Resolution Reconstruction Using Microsphere-Assisted Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 22, 页码: 1783-1786
作者:
Xie, Zhongye
;
Hu, Song
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Liu, Junbo
收藏
  |  
浏览/下载:40/0
  |  
提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
microsphere
Profilometry with Enhanced Accuracy Using Differential Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 13, 页码: 1017-1020
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Liu, Junbo
;
He, Yu
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
thickness measurement
Optical sectioning microscopy for multilayer structure with micro-scale air gaps measurement
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 141-144
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Wei, Haojie
;
Liu, Junbo
;
He, Yu
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
thickness measurement
Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy
会议论文
Chengdu, China, June 26, 2018 - June 29, 2018
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Yang, Kejun
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2021/05/06
Spatial Modulation-Assisted Scanning White-Light Interferometry for Noise Suppression
期刊论文
IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS, 2018, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 379-382
作者:
Deng, Qinyuan
;
Liu, Junbo
;
Tang, Yan
;
Zhou, Yi
;
Yang, Yong
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2019/08/23
Surface measurement
noise suppression
spatial modulation
Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy
会议论文
Chengdu, PEOPLES R CHINAChengdu, PEOPLES R CHINA, JUN 26-29, 2018JUN 26-29, 2018
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Yang, Kejun
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/08/23
thin films
Fourier transform
microscopy
surface topography
digital micro-mirror devices
modulation
Topography measurement of large-rangemicrostructures through advanced fourier-transformmethod and phase stitching in scanning broadband light interferometry
期刊论文
Micromachines, 2017, 卷号: 8, 期号: 11, 页码: 319
作者:
Zhou, Yi
;
Tang, Yan
;
Yang, Yong
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:48/0
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提交时间:2018/11/20
Microstructure - Modulation - Pixels - Topography
Spatial modulation assisted scanning white-light interferometry for noise suppression
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2017
作者:
Deng, Qinyuan
;
Liu, Junbo
;
Tang, Yan
;
Zhou, Yi
;
Yang, Yong
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
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提交时间:2018/11/20
Bandpass filters - Frequency domain analysis - Interferometry - Light sources - Scanning - Signal to noise ratio - Spurious signal noise - Surface measurement
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