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Metabolic-related gene pairs signature analysis identifies ABCA1 expression levels on tumor-associated macrophages as a prognostic biomarker in primary IDHWT glioblastoma
期刊论文
FRONTIERS IN IMMUNOLOGY, 2022, 卷号: 13
作者:
Wang, Shiqun
;
Li, Lu
;
Zuo, Shuguang
;
Kong, Lingkai
;
Wei, Jiwu
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2022/12/22
primary glioblastoma
wild-type isocitrate dehydrogenase
metabolic-related gene pairs
prognosis
tumor-associated macrophages
ABCA1
Object Reconstruction Based on Attentive Recurrent Network from Single and Multiple Images
期刊论文
NEURAL PROCESSING LETTERS, 2021, 期号: 53, 页码: 18
作者:
Gao, Zishu
;
Li, En
;
Wang, Zhe
;
Yang, Guodong
;
Lu, Jiwu
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2021/03/01
Object reconstruction
Convolutional LSTM
Visual attention
Robotic application
Structure, bond characteristics and Raman spectra of CaMgMnSiO microwave dielectric ceramics
期刊论文
Ceramics International, 2019, 卷号: Vol.45 No.11, 页码: 14160-14166
作者:
Hao Li
;
Xiaoqing Chen
;
Qiuyuan Xiang
;
Bin Tang
;
Jiwu Lu
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/13
CaMg1-xMnxSi2O6
Microwave dielectric properties
Bond characteristics
Raman spectroscopy
Structure, bond characteristics and Raman spectra of CaMgMnSiO microwave dielectric ceramics
期刊论文
Ceramics International, 2019
作者:
Hao Li
;
Xiaoqing Chen
;
Qiuyuan Xiang
;
Bin Tang
;
Jiwu Lu
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/13
CaMg1-xMnxSi2O6
Microwave dielectric properties
Bond characteristics
Raman spectroscopy
Failure modes and mechanism analysis of SiC MOSFET under short-circuit conditions
期刊论文
Microelectronics Reliability, 2018, 卷号: Vol.88-90, 页码: 593-597
作者:
Xi Jiang
;
Jun Wang
;
Jiwu Lu
;
Jianjun Chen
;
Xin Yang
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/26
SiC MOSFET
Short-circuit
Failure analysis
A Fast Vth Measurement Technique for NBTI Behavior Characterization.
期刊论文
IEEE Electron Device Letters, 2018, 卷号: Vol.39 No.2, 页码: 172-175
作者:
Yu, Xiao
;
Cheng, Ran
;
Liu, Wei
;
Qu, Yiming
;
Han, Jinghui
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/26
Logic gates
NBTI
Negative bias temperature instability
pFinFETs
reliability
Stress
Stress measurement
Thermal variables control
Time measurement
trapping
ultra-fast measurement
Voltage measurement
A Fast Vth Measurement (FVM) Technique for NBTI Behavior Characterization
期刊论文
IEEE Electron Device Letters, 2018, 卷号: Vol.39 No.2, 页码: 172-175
作者:
Xiao Yu
;
Ran Cheng
;
Wei Liu
;
Yiming Qu
;
Jinghui Han
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/26
Voltage
measurement
Stress
Negative
bias
temperature
instability
Thermal
variables
control
Logic
gates
Stress
measurement
Time
measurement
pFinFETs
reliability
NBTI
ultra-fast
measurement
trapping
A Fast Vth Measurement (FVM) Technique for NBTI Behavior Characterization
期刊论文
IEEE Electron Device Letters, 2018, 卷号: Vol.39 No.2, 页码: 172-175
作者:
Yu, Xiao
;
Cheng, Ran
;
Liu, Wei
;
Qu, Yiming
;
Han, Jinghui
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/26
Efficient ab initio analysis of quantum confinement and band structure effects in ultra-scaled Si1?xGex gate-all-around and fin field-effect transistors for sub-10?nm technology nodes
期刊论文
Journal of Computational Electronics, 2018, 卷号: Vol.17 No.4, 页码: 1399-1409
作者:
Liu, Jie
;
Tang, Chuanxiang
;
Mo, Pinghui
;
Lu, Jiwu
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/26
Electrical-field-induced magnetic Skyrmion ground state in a two-dimensional chromium tri-iodide ferromagnetic monolayer
期刊论文
AIP ADVANCES, 2018, 卷号: Vol.8 No.5
作者:
Liu, Jie
;
Shi, Mengchao
;
Mo, Pinghui
;
Lu, Jiwu
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/26
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