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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 学科主题：半导体材料     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Infrared reflectance study of 3C-SiC epilayers grown on silicon substrates 期刊论文 journal of physics d-applied physics, 2012, 卷号: 45, 期号: 24, 页码: 245102 Dong, L; Sun, GS; Zheng, L; Liu, XF; Zhang, F; Yan, GG; Zhao, WS; Wang, L; Li, XG; Wang, ZG 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2013/03/17 Characterization of 4H-SiC substrates and epilayers by Fourier transform infrared reflectance spectroscopy 期刊论文 chinese physics b, 2012, 卷号: 21, 期号: 4, 页码: 47802 Dong, L; Sun, GS; Zheng, L; Liu, XF; Zhang, F; Yan, GG; Zhao, WS; Wang, L; Li, XG; Wang, ZG 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2013/02/07 High-Performance 4H-SiC-Based Metal-Insulator-Semiconductor Ultraviolet Photodetectors With SiO(2) and Al(2)O(3)/SiO(2) Films 期刊论文 ieee electron device letters, 2011, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 1722-1724 Zhang F (Zhang Feng); Sun GS (Sun Guosheng); Huang HL (Huang Huolin); Wu ZY (Wu Zhengyun); Wang L (Wang Lei); Zhao WS (Zhao Wanshun); Liu XF (Liu Xingfang); Yan GG (Yan Guoguo); Zheng L (Zheng Liu); Dong L (Dong Lin); Zeng YP (Zeng Yiping) 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/02/22 Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement 期刊论文 chinese physics b, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: article no.33301 作者:  Liu XF;  Yan GG;  Zheng L;  Dong L 收藏  |  浏览/下载：37/3  |  提交时间：2011/07/05 4H-SiC  Raman scattering  LOPC modes  transport properties  SILICON-CARBIDE  LIGHT  GAP