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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 专题：西安交通大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Chemically engineered multiferroic morphotropic phase boundary in BiFeO3-based single phase multiferroics 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2019, 卷号: 125, 页码: 10 作者:  Zhuang, Jian;  Lu, Jinming;  Zhang, Nan;  Zhang, Jie;  Bokov, Alexei A. 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/11/19 Single Crystal Growth and Hierarchical Ferroelectric Domain Structure of (1-x)BiFeO3-xPbTiO(3) Solid Solutions 期刊论文 CRYSTAL GROWTH & DESIGN, 2018, 卷号: 18, 页码: 4503-4510 作者:  Zhuang, Jian;  Bokov, Alexei A.;  Zhang, Nan;  Zhang, Jie;  Zhao, Jinyan 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/26 Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler 期刊论文 APPLIED SURFACE SCIENCE, 2016, 卷号: 387, 页码: 732-735 作者:  Li, Changsheng;  Yang, Shuming;  Wang, Yiming;  Wang, Chenying;  Ren, Wei 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/26 Three-step height  Stylus profiler  Characterization   Fabrication of Nanoscale Step Height Structure Using Atomic Layer Deposition Combined with Wet Etching 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF MECHANICAL ENGINEERING, 2016, 卷号: 29, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 91-97 作者:  Wang Chenying;  Yang Shuming;  Jing Weixuan;  Ren Wei;  Lin Qijing 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/02 atomic layer deposition (ALD)  step height  wet etching   Effect of excess Bi2O3 on structure and performance of ZnO-based thin film transistors 期刊论文 JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2015, 卷号: 33, 期号: [db:dc_citation_issue] 作者:  Ye, Wei;  Ren, Wei;  Wang, Zhao;  Shi, Peng;  Yang, Shuming 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 Effect of sputtering power on properties of ZnO thin film transistors with Bi15Zn1.0Nb1.5O7 gate insulator 期刊论文 CERAMICS INTERNATIONAL, 2015, 卷号: 41, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: S750-S757 作者:  Ye, Wei;  Ren, Wei;  Shi, Peng;  Yang, Shuming;  Jing, Weixuan 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/02 BZN pyrochlore thin film  RF magnetron sputtering  ZnO-TFTs   Low-temperature remote plasma-enhanced atomic layer deposition of graphene and characterization of its atomic-level structure 期刊论文 JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY C, 2014, 卷号: 2, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 7570-7574 作者:  Zhang, Yijun;  Ren, Wei;  Jiang, Zhuangde;  Yang, Shuming;  Jing, Weixuan 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/03