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科研机构
半导体研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [5]
会议论文 [1]
发表日期
2006 [2]
2003 [1]
2000 [3]
学科主题
半导体材料 [6]
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学科主题:半导体材料
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Development of current-based microscopic defect analysis method using optical filling techniques for the defect study on heavily irradiated high-resistivity Si sensors/detectors
期刊论文
materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 283-287
Li Z (Li Z.)
;
Li CJ (Li C. J.)
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2010/04/11
DLTS
defects
detectors
sensors
current transient
SILICON DETECTORS
Nanocrystalline silicon films with high conductivity and the application for PIN solar cells
期刊论文
vacuum, 2006, 卷号: 81, 期号: 1, 页码: 126-128
Min C (Cui Min)
;
Zhang WJ (Zhang Weija)
;
Wang TM (Wang Tianmin)
;
Jin F (Jin Fei)
;
Li GH (Li Guohua)
;
Ding K (Ding Kun)
收藏
  |  
浏览/下载:28/0
  |  
提交时间:2010/04/11
nc-Si : H
conductivity
PECVD
films
solar cells
Selective area growth of GaN on GaAs(001) substrates by metalorganic vapor-phase epitaxy
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 252, 期号: 1-3, 页码: 9-13
Shen XM
;
Feng G
;
Zhang BS
;
Duan LH
;
Wang YT
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2010/08/12
scanning electron microscopy
X-ray diffraction
Metalorganic vapor phase epitaxy
selective area growth
gallium nitride
CUBIC GAN
OVERGROWN GAN
DEPOSITION
GAAS(100)
X-ray double-crystal characterization of the strain relaxation in GaAs/GaNxAs1-x/GaAs(001) sandwiched structures
期刊论文
journal of crystal growth, 2000, 卷号: 217, 期号: 1-2, 页码: 26-32
Pan Z
;
Wang YT
;
Li LH
;
Zhang W
;
Lin YW
;
Zhou ZQ
;
Wu RH
收藏
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浏览/下载:48/0
  |  
提交时间:2010/08/12
x-ray diffraction
strain relaxation
GaNxAs1-x/GaAs
photoluminescence
RHEED
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
TEMPERATURE PULSED OPERATION
BAND-GAP ENERGY
NITROGEN
GAASN
GANXAS1-X
GAAS1-XNX
ALLOYS
LASERS
LAYERS
The content calculation of hexagonal phase inclusions in cubic GaN films on GaAs(001) substrates grown by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
thin solid films, 2000, 卷号: 368, 期号: 2, 页码: 237-240
Sun XL
;
Wang YY
;
Yang H
;
Li JB
;
Zheng LX
;
Xu DP
;
Wang ZG
收藏
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2010/08/12
metalorganic chemical vapor deposition
cubic GaN
hexagonal phase content
4-circle X-ray double crystal diffraction
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
GALLIUM NITRIDE
THIN-FILMS
SILICON
GAAS
The content calculation of hexagonal phase inclusions in cubic GaN films on GaAs(001) substrates grown by metalorganic chemical vapor deposition
会议论文
1st asian conference on chemical vapour deposition, shanghai, peoples r china, may 10-13, 1999
Sun XL
;
Wang YY
;
Yang H
;
Li JB
;
Zheng LX
;
Xu DP
;
Wang ZG
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2010/11/15
metalorganic chemical vapor deposition
cubic GaN
hexagonal phase content
4-circle X-ray double crystal diffraction
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
GALLIUM NITRIDE
THIN-FILMS
SILICON
GAAS
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