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Nanowire gate-all-around MOSFETs modeling: ballistic transport incorporating the source-to-drain tunneling
期刊论文
Japanese Journal of Applied Physics, 2020, 卷号: 59, 期号: 7, 页码: 1-9
作者:
Cheng H(程贺)
;
Liu TF(刘铁锋)
;
Zhang C(张超)
;
Liu ZF(刘志峰)
;
Yang ZJ(杨志家)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2020/07/11
ballistic transport
cylindrical gate-allaround (GAA) MOSFET
compact model
Wentzel-Kramers-Brillouin (WKB) approximation
the source-to-drain tunneling
Compact Model for Tunnel Diode Body Contact SOI n-MOSFETs
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 249-254
作者:
Yongwei Chang
;
Jiexin Luo
;
Jing Chen
;
Lingda Xu
;
Zhan Chai
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/13
MOSFET
circuits
Integrated
circuit
modeling
Semiconductor
device
modeling
Radio
frequency
MOSFET
Analytical
models
Mathematical
model
Body
contact
compact
model
floating
body
effects
(FBEs)
impact
ionization
partially
depleted
silicon-on-insulator
(PD-SOI)
radio
frequency
(RF)
tunnel
diode
body
contact
(TDBC)
Abnormal Recovery Phenomenon Induced by Hole Injection During Hot Carrier Degradation in SOI n-MOSFETs
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
Lu, Ying-Hsin
;
Chang, Ting-Chang
;
Chen, Li-Hui
;
Lin, Yu-Shan
;
Liu, Xi-Wen
;
Liao, Jih-Chien
;
Lin, Chien-Yu
;
Lien, Chen-Hsin
;
Chang, Kuan-Chang
;
Zhang, Sheng-Dong
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Hole injection
hot carrier
impact ionization
abnormal recovery
P-MOSFETS
Experimental Investigation of Ballistic Carrier Transport for Sub-100-nm Ge n-MOSFETs
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
Cheng, Ran
;
Yin, Longxiang
;
Wu, Heng
;
Yu, Xiao
;
Zhang, Yanyan
;
Zheng, Zejie
;
Wu, Wangran
;
Chen, Bing
;
Ye, Peide D.
;
Liu, Xiaoyan
;
Zhao, Yi
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Germanium MOSFETs
ballistic transport
pulsed IV
GeOI
self-heating effect
P-CHANNEL
Impact of quantum confinement on transport and the electrostatic driven performance of silicon nanowire transistors at the scaling limit
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2017
Al-Ameri, Talib
;
Georgiev, Vihar P.
;
Sadi, Toufik
;
Wang, Yijiao
;
Adamu-Lema, Fikru
;
Wang, Xingsheng
;
Amoroso, Salvatore M.
;
Towie, Ewan
;
Brown, Andrew
;
Asenov, Asen
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
CMOS
Electrostatics
Nanowire transistors
Performance
Quantum effects
TCAD
GATE
SIMULATION
INVERSION
MULTIGATE
MOSFETS
NM
Perspective analysis of tri gate germanium tunneling field-effect transistor with dopant segregation region at source/drain
期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2017
Liu, Liang-kui
;
Shi, Cheng
;
Zhang, Yi-bo
;
Sun, Lei
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/12/03
ELECTRICAL-PROPERTIES
SCHOTTKY CONTACTS
MOSFETS
SWITCHES
LIMIT
STACK
Positive bias temperature instability degradation of buried InGaAsChannel n-MOSFETs with InGaP barrier layer and Al2O3 dielectric
会议论文
作者:
Wang SK(王盛凯)
;
Chang HD(常虎东)
;
Sun B(孙兵)
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/05/18
Simulation study of an imulation study of an enhancement -mode n-type InGaAs MOSFETs with a low zero bias off-current
会议论文
作者:
Wang SK(王盛凯)
;
Chang HD(常虎东)
;
Sun B(孙兵)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2017/05/18
Schottky Barrier Height Tuning via the Dopant Segregation Technique through Low-Temperature Microwave Annealing
期刊论文
Materials, 2016
作者:
Luo J(罗军)
;
Zhao C(赵超)
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/05/09
脉冲宽度对核电磁脉冲烧毁RS触发器效应的影响
期刊论文
2016, 2016
米国浩
;
杜正伟
;
曹雷团
;
吴强
;
陈曦
;
Mi Guohao
;
Du Zhengwei
;
Cao Leituan
;
Wu Qiang
;
Chen Xi
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