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Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898
作者:  Zheng, Qiwen;  Cui, Jiangwei;  Lu, Wu;  Guo, Hongxia;  Liu, Jie
收藏  |  浏览/下载：74/0  |  提交时间：2019/11/10
Total Ionizing Dose Responses of Forward Body Bias Ultra-Thin Body and Buried Oxide FD-SOI Transistors 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 4, 页码: 702-709
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ];  Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ];  Xu, LW (Xu, Liewei)[ 2 ];  Ning, BX (Ning, Bingxu)[ 3 ];  Zhao, K (Zhao, Kai)[ 3 ]
收藏  |  浏览/下载：99/0  |  提交时间：2019/05/14
Bias Dependence of Radiation-Induced Narrow-Width Channel Effects in 65 nm NMOSFETs 期刊论文
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2018, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 1-4
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qi-Wen);  Cui, JW (Cui, Jiang-Wei);  Wei, Y (Wei, Ying);  Yu, XF (Yu, Xue-Feng);  Lu, W (Lu, Wu)
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2018/05/07
Read Static Noise Margin Decrease of 65-nm 6-T SRAM Cell Induced by Total Ionizing Dose 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 691-697
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen);  Cui, JW (Cui, Jiangwei);  Yu, XF (Yu, Xuefeng);  Lu, W (Lu, Wu);  He, CF (He, Chengfa)
收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2018/05/15
Hot-carrier effects on irradiated deep submicron NMOSFET 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 7
作者:  Cui, Jiangwei;  Zheng, Qiwen;  Yu, Xuefeng;  Cong, Zhongchao;  Zhou, Hang
收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2014/11/11
Total dose ionizing irradiation effects on a static random access memory field programmable gate array 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 3
作者:  Gao, Bo;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  Li, Yudong;  Sun, Jing
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2014/11/11
栅控横向PNP双极晶体管电离辐射效应 期刊论文
Nuclear Techniques, 2012, 卷号: 35, 期号: 11
作者:  Xi Shanbin;  Lu Wu;  Ren Diyuan;  Wang Zhikuan;  Zhou Dong
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2013/11/07
Total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFETs 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:  Cui, Jiangwei;  Xue, Yaoguo;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  Lu, Jian
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2014/11/11
RELATIONSHIP BETWEEN SILICON-ON-INSULATOR KINK AND RADIATION EFFECTS 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS E-NUCLEAR PHYSICS, 2011, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 1409-1417
作者:  Cui Jiangwei;  Yu Xuefeng;  Ren Diyuan
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29
SOI  kink  radiation  
Double humps and radiation effects of SOI NMOSFET 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2011, 卷号: 32, 期号: 6
作者:  Cui, Jiangwei;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  He, Chengfa;  Gao, Bo
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2014/11/11

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