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Revealing the intrinsic relation between heteroatom dopants and graphene quantum dots as a bi-functional ORR/OER catalyst
期刊论文
MOLECULAR CATALYSIS, 2022, 卷号: 518, 页码: 5
作者:
Yang, Min
;
Lian, Zan
;
Si, Chaowei
;
Jan, Faheem
;
Li, Bo
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2022/07/01
The suppression of Cu-related charge localized defects in Cu2ZnSnS4 thin film solar cells
期刊论文
SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS, 2018, 卷号: 180, 期号: 无, 页码: 118-122
作者:
Zhang, Xiaoli
;
Han, Miaomiao
;
Zheng, Xiaohong
;
Zeng, Zhi
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2019/06/10
Defect
Charge localization
Formation energy
Charge transition energy
CZTS
Strong correlation between B-Al-N doping concentration fluctuation and photoluminescence effects of f-SiC
期刊论文
AIP ADVANCES, 2018, 卷号: 8, 期号: 7
作者:
Zhuo, Shi-Yi
;
Liu, Xue-Chao
;
Xu, Ting-Xiang
;
Yan, Cheng-Feng
;
Shi, Er-Wei
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2018/12/28
Modeling the threshold voltage variation induced by channel random dopant fluctuation in fully depleted silicon-on-insulator MOSFETs
期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2018, 卷号: 57
作者:
Zhang, Guohe
;
Yang, Jiangjiang
;
Jiang, Peilin
;
Bu, Jianhui
;
Li, Binhong
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/11/19
Influence of Dopants Profile on Random Dopant Fluctuation and Optimization for Bulk FinFET
期刊论文
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2017
作者:
Wan GX(万光星)
;
Zhu HL(朱慧珑)
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2018/07/09
New Understanding of Random Telegraph Noise Amplitude in Tunnel FETs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017
Chen, Cheng
;
Huang, Qianqian
;
Zhu, Jiadi
;
Zhao, Yang
;
Guo, Lingyi
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2017/12/03
Amplitude
annealing process
band-to-band tunneling (BTBT) generation rate
nonuniformity
random dopant fluctuation (RDF)
random telegraph noise (RTN)
source doping concentration
tunnel FET (TFET)
FIELD-EFFECT TRANSISTORS
RANDOM DOPANT FLUCTUATION
LINE-EDGE ROUGHNESS
1/F NOISE
ELECTRICAL NOISE
CMOS DEVICES
VARIABILITY
IMPACT
TFET
A Device-Level Characterization Approach to Quantify the Impacts of Different Random Variation Sources in FinFET Technology
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2016
Jiang, Xiaobo
;
Guo, Shaofeng
;
Wang, Runsheng
;
Wang, Xingsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/04
FinFET
random variation
characterization
line-edge roughness (LER)
metal gate granularity (MGG)
LINE-EDGE ROUGHNESS
VARIABILITY
LWR
LER
Experimental study on the oxide trap coupling effect in metal oxide semiconductor field effect transistors with HfO2 gate dielectrics
期刊论文
应用物理学快报, 2014
Ren, Pengpeng
;
Wang, Runsheng
;
Jiang, Xiaobo
;
Qiu, Yingxin
;
Liu, Changze
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2015/11/10
Impact of Random Interface Traps and Random Dopants in High-k/Metal Gate Junctionless FETs
期刊论文
ieee 纳米技术汇刊, 2014
Wang, Yijiao
;
Huang, Peng
;
Wei, Kangliang
;
Zeng, Lang
;
Liu, Xiaoyan
;
Du, Gang
;
Zhang, Xing
;
Kang, Jinfeng
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
High-k/metal gate (HKMG)
junctionless FET (JL-FET)
random dopant fluctuation (RDF)
random interface traps (RITs)
TCAD simulation
MOSFETS
FLUCTUATIONS
VARIABILITY
SIMULATION
Impact of random discrete dopant in extension induced fluctuation in gate-source/drain underlap FinFET
期刊论文
日本应用物理学杂志, 2014
Wang, Yijiao
;
Huang, Peng
;
Xin, Zheng
;
Zeng, Lang
;
Liu, Xiaoyan
;
Du, Gang
;
Kang, Jinfeng
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/11/10
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