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HIGH SENSITIVITY AND LARGE MEASUREMENT RANGE REFRACTOMETRIC SENSING BASED ON MACH-ZEHNDER INTERFEROMETER 其他
2016-01-01
Zhang, G.; Cai, H.; Gu, Y. D.; Song, J. F.; Dong, B.; Yang, Z. C.; Jin, Y. F.; Hao, Y. L.; Sivalingam, S. P.; Yap, P. H.; Kwong, D. L.; Liu, A. Q.
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Understanding charge traps for optimizing Si-passivated Ge nMOSFETs 其他
2016-01-01
Ren, P.; Gao, R.; Ji, Z.; Arimura, H.; Zhang, J. F.; Wang, R.; Duan, M.; Zhang, W.; Franco, J.; Sioncke, S.; Cott, D.; Mitard, J.; Witters, L.; Mertens, H.; Kaczer, B.; Mocuta, A.; Collaert, N.; Linten, D.; Huang, R.; Thean, A. V.Y.; Groeseneken, G.
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Insight into PBTI in InGaAs Nanowire FETs with Al2O3 and LaAlO3 Gate Dielectrics 其他
2016-01-01
Li, Y.; Di, S. Y.; Jiang, H.; Huang, P.; Wang, Y. J.; Lun, Z. Y.; Shen, L.; Yin, L. X.; Zhang, X.; Du, G.; Liu, X. Y.
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03
PARTICLE SEPARATION UNDER THE CO-ACTION OF BROWNIAN MOTION AND OPTICAL FORCE IN NEAR-FIELD SPECKLE PATTERNS 其他
2015-01-01
Zhao, H. T.; Zhang, G.; Chin, L. K.; Cai, H.; Song, J. F.; Yang, Z. C.; Yap, E. P. H.; Ser, W.; Kwong, D. L.; Liu, A. Q.
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03
A single device based voltage step stress (VSS) technique for fast reliability screening 其他
2014-01-01
Ji, Z.; Zhang, J.F.; Zhang, W.; Zhang, X.; Kaczer, B.; De Gendt, S.; Groeseneken, G.; Ren, P.; Wang, R.; Huang, R.
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Analytic Model of Endurance Degradation and Its Practical Applications for Operation Scheme Optimization in Metal Oxide Based RRAM 其他
2013-01-01
Huang, P.; Chen, B.; Wang, Y. J.; Zhang, F. F.; Shen, L.; Liu, R.; Zeng, L.; Du, G.; Zhang, X.; Gao, B.; Kang, J. F.; Liu, X. Y.; Wang, X. P.; Weng, B. B.; Tang, Y. Z.; Lo, G-Q.; Kwong, D.L.
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A Physical Based Analytic Model of RRAM Operation for Circuit Simulation 其他
2012-01-01
Huang, P.; Liu, X. Y.; Li, W. H.; Deng, Y. X.; Chen, B.; Lu, Y.; Gao, B.; Zeng, L.; Wei, K. L.; Du, G.; Zhang, X.; Kang, J. F.
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SILICON NANOPILLAR-FOREST BASED MICROFLUIDIC SURFACE-ENHANCED RAMAN SCATTERING DEVICES 其他
2011-01-01
Mao, H. Y.; Wu, W. G.; Zhang, Y. L.; Lv, P. P.; Qian, C.; Xu, J.; Zhang, H. X.
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