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期刊论文 [5]
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发表日期:2021
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Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:
He, Ze
;
Zhao, Shi-Wei
;
Liu, Tian-Qi
;
Cai, Chang
;
Yan, Xiao-Yu
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浏览/下载:68/0
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提交时间:2022/01/12
Double interlocked storage cell (DICE)
Error detection and correction (EDAC) code
Heavy ion
Radiation hardening technology
Single event upset (SEU)
Static random-access memory (SRAM)
Design, Application, and Verification of the Novel SEU Tolerant Abacus-Type Layouts
期刊论文
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 23, 页码: 11
作者:
Sun, Yi
;
Li, Zhi
;
He, Ze
;
Chi, Yaqing
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2022/04/11
D flip-flop
double interlocked storage cell
single event upset
Virtual design of formability for Zircaloy-4 sheet through texture control
期刊论文
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 2021, 卷号: 1157, 期号: 1
作者:
Liu,H
;
Deng,S
;
Chen,S
;
Song,H
;
Zhang,S
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2021/10/15
Comparison between Subsequent Irradiation and Co-Irradiation into SIMP Steel
期刊论文
MATERIALS, 2021, 卷号: 14, 期号: 6, 页码: 11
作者:
Wang, Yong
;
Zhang, Tongmin
;
Liao, Qing
;
Yang, Junyuan
;
Gu, Weigang
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2021/12/10
martensitic steel
Fe and He irradiation
microstructure
Radiation Effects and Mechanisms on Switching Characteristics of Silicon Carbide Power MOSFETs
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2021, 卷号: 16, 期号: 9, 页码: 1423-1429
作者:
Feng, HN (Feng, Haonan) [1] , [2] , [3]
;
Yang, S (Yang, Sheng) [1] , [2] , [3]
;
Liang, XW (Liang, Xiaowen) [1] , [2] , [3]
;
Zhang, D (Zhang, Dan) [1] , [2] , [3]
;
Pu, XJ (Pu, Xiaojuan) [1] , [2] , [3]
收藏
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2022/03/24
SiC Power MOSFETs
Switching Characteristics
Total Ionizing Dose (TID) Effect
Static Characteristic
Parasitic Capacitance
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