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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Island diodes triggering SCR in waffle layout with high failure current for HV ESD protection 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 页码: 17-23 作者:  Zheng, Yifei[1];  Jin, Xiangliang[2];  Wang, Yang[3];  Guan, Jian[4];  Hao, Sanwan[5] 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/04/22 Electrostatic discharge  Waffle layout  Island diode triggering SCR  HV ESD protection  3-D device simulation  Failure current