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北京大学 [17]
内容类型
其他 [17]
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2016 [2]
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2011 [1]
2010 [1]
2009 [1]
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Extended Hydrodynamic Models and Multigrid Solver of a Silicon Diode Simulation
其他
2016-01-01
Hu, Zhicheng
;
Li, Ruo
;
Qiao, Zhonghua
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
Boltzmann transport equation
extended hydrodynamic model
moment-dependent relaxation time
multigrid
semiconductor device simulation
REGULARIZED MOMENT METHOD
GLOBALLY HYPERBOLIC REGULARIZATION
BOUNDARY-CONDITIONS
BOLTZMANN-EQUATION
DEVICE SIMULATIONS
CARRIER TRANSPORT
SEMICONDUCTORS
SYSTEM
ELECTRONS
APPROXIMATIONS
Bias-dependent High Frequency Characterization of Through-Silicon Via (TSV) for 3D Integration
其他
2016-01-01
Sun, Xin
;
Fang, Runiu
;
Liu, Huan
;
Miao, Min
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
Through-silicon via (TSV)
S parameter
RLGC extraction
MOS effect
CAPACITANCE
VIAS
Logistic regression bias correction for large scale data with rare events
其他
2013-01-01
Qiu, Zhen
;
Li, Hongyan
;
Su, Hanchen
;
Ou, Gaoyan
;
Wang, Tengjiao
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/17
Optically powered ZnO nanowires with symmetric and asymmetric contacts
其他
2013-01-01
Zhang, Lihuan
;
Zhang, Xiaoxian
;
Lai, Jialin
;
Liu, Zhao
;
Hou, Shimin
;
Xie, Sishen
;
Gao, Min
收藏
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浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Analysis and modeling of geometry dependent thermal resistance in silicon-on-insulator metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
其他
2013-01-01
Zhou, Xingye
;
Inoue, Takuya
;
Kitamura, Masashi
;
Matsuura, Kai
;
Miyake, Masataka
;
Iizuka, Takahiro
;
Umeda, Takuya
;
Kikuchihara, Hideyuki
;
Mattausch, Hans Juergen
;
He, Jin
;
Miura-Mattausch, Mitiko
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
Stability of Zinc Oxide Thin-Film Transistors
其他
2012-01-01
Li, Shao-juan
;
Sun, Lei
;
Han, De-dong
;
Wang, Yi
;
Han, Ru-qi
;
Zhang, Sheng-dong
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2015/11/13
Characterization and analysis of pattern dependent variation-aware interconnects for a 65nm technology
其他
2011-01-01
Jiang, Lele
;
Qin, Xiaojing
;
Chang, Lifu
;
Cheng, Yuhua
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
Investigation on the reliability corner of pMOSFETs with drain-bias-dependent NBTI degradation
其他
2010-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Duan, Xiaorong
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
Drain bias effect on the interface traps of pMOSFETs under negative bias temperature stress
其他
2009-01-01
Pan, J.Y.
;
Yang, J.Q.
;
Qiao, Y.
;
Liu, X.Y.
;
Han, R.Q.
;
Kang, J.F.
;
Liao, C.C.
;
Wu, H.M.
;
Wu, Y.J.
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/13
Recovery Characteristics of NBTI of pMOSFETs with Oxynitride Dielectrics Under Drain Bias
其他
2008-01-01
Yang, Jiaqi
;
Pan, Junyan
;
Huang, Lihua
;
Liu, Xiaoyan
;
Han, Ruqi
;
Kang, Jinfeng
;
Zhang, L. F.
;
Zhu, Z. W.
;
Liao, C. C.
;
Wu, H. M.
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/11/10
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