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双波长纳米精度实时干涉测量仪 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL02112079.X, 申请日期: 2004-11-24, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
王学锋; 王向朝; 刘英明; 钱锋
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基于F-P板正弦相位调制的高精度角位移测量装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL3209960.6, 申请日期: 2004-11-10, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
张彩妮; 王向朝
收藏  |  浏览/下载:34/6  |  提交时间:2011/07/14
全光纤纳米精度微位移与微振动干涉测量仪 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL02112077.3, 申请日期: 2004-06-02, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
王向朝; 王学锋; 刘英明; 钱锋
收藏  |  浏览/下载:28/6  |  提交时间:2011/07/14
复杂结构光纤光栅的逆工程设计和实验研究 学位论文
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2004
作者:  黄锐
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光学干涉面形测量中的相位展开技术研究 学位论文
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2004
作者:  路元刚
收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2016/11/28


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