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光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 专利
专利号: CN201811100735.6, 申请日期: 2018-09-20, 公开日期: 2019-01-11
作者:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋
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十二象限激光探测器 专利
申请日期: 2018-09-07, 公开日期: 2018-09-07
作者:  于洋;  魏永旺;  史泽林;  罗海波;  常铮
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