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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Characterization of tunnel oxide passivated contact with n-type poly-Si on p-type c-Si wafer substrate 期刊论文 CURRENT APPLIED PHYSICS, 2019, 卷号: 19, 期号: 7, 页码: 811-816 作者:  Guo, Xueqi;  Zeng, Yuheng;  Zhang, Zhi;  Huang, Yuqing;  Liao, Mingdun 收藏  |  浏览/下载：102/0  |  提交时间：2019/06/25 Solar cell  C-V measurement  Built-in potential  poly-Si  TOPCon  p-n junction   Charge-depleting of the batteries makes smartphones recognizable 会议论文 作者:  Chen, Jing;  Fang, Yingying;  He, Kun;  Du, Ruiying 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/05 Charge-depleting of the batteries makes smartphones recognizable 其他 2017-01-01 作者:  Chen, Jing;  Fang, Yingying;  He, Kun;  Dui, Ruiying 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/05 battery fingerprinting  battery level  charge-depleting  security  identification   Charge-depleting of the batteries makes smartphones recognizable 其他 2017-01-01 作者:  Chen, Jing;  Fang, Yingying;  He, Kun;  Dui, Ruiying 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/05 battery fingerprinting  battery level  charge-depleting  security  identification   Coexistence and competition of multiple charge-density-wave orders in rare-earth tritellurides 期刊论文 PHYSICAL REVIEW B, 2014, 卷号: 90, 期号: 8 Hu, BF; Cheng, B; Yuan, RH; Dong, T; Wang, NL 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/04/14