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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Void nucleation in alloys with lamella particles under biaxial loadings 期刊论文 EXTREME MECHANICS LETTERS, 2018, 卷号: 22, 页码: 42-50 作者:  Gao, Bo;  Li, Ying;  Guo, Tian Fu;  Guo, Xu;  Tang, Shan 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/02 Void nucleation  Unit cell  Biaxial loading  SEM/TEM  Proportional stressing   Anchoring characteristic of tension-type anchor cable and grout length design 会议论文 Tongji Univ, Shanghai, PEOPLES R CHINA, JUN 18-20, 2013 作者:  Liu, Xiumin;  Zhou, Yichao;  Chen, Congxin;  Zheng, Yun;  Xia, Kaizhong 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2018/06/05 An analytical expression for predicting wearout lifetime of thin gate and tunneling oxide 期刊论文 固体电子学, 2002 Xu, MZ; Tan, CH 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 tunneling oxide  defect hopping conduction  intrinsic breakdown  predicting wearout lifetime  DEPENDENT DIELECTRIC-BREAKDOWN  SILICON DIOXIDE FILMS  MODEL  FIELD  RELIABILITY  DEGRADATION  CONDUCTION  SIO2-FILMS  MECHANISM  STRESS