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Partially Crystallized Ultrathin Interfaces between GaN and SiNx Grown by Low-Pressure Chemical Vapor Deposition and Interface Editing
期刊论文
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2021, 卷号: 13
作者:
Wang, Xinhua
;
Zhang, Yange
;
Huang, Sen
;
Yin, Haibo
;
Fan, Jie
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2021/04/26
GaN
first-principles
formation mechanism of crystallized Si2N2O
interface editing
LPCVD-SiNx
near-conduction band states
LPCVD SiNx/AlGaN/GaN MISHEMTs器件界面态与电流崩塌现象的研究
学位论文
2017
作者:
余堃
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/11/26
AlGaN/GaN MISHEMTs
LPCVD SiNx
界面态
电流崩塌
钝化
Study of Interface Traps in AlGaN/GaN MISHEMTs Using LPCVD SiNx as Gate Dielectric
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017, 卷号: 64, 页码: 824-831
作者:
Lu, Xing
;
Yu, Kun
;
Jiang, Huaxing
;
Zhang, Anping
;
Lau, Kei May
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/11/26
low pressure chemical vapor deposition (LPCVD) SiNx
interface traps
current collapse
passivation
AlGaN/GaN MIS high electron mobility transistors (MISHEMTs)
High Uniformity Normally-OFF GaN MIS-HEMTs Fabricated on Ultra-Thin-Barrier AlGaN/GaN Heterostructure
期刊论文
IEEE Electron Device Letters, 2016
作者:
Liu XY(刘新宇)
;
Huang S(黄森)
;
Wang XH(王鑫华)
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2017/05/08
Effect of interface and bulk traps on the C–V characterization of a LPCVD-SiNx/AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor structure
期刊论文
Semiconductor Science and Technology, 2016
作者:
Huang S(黄森)
;
Wang XH(王鑫华)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2017/05/08
Investigation of the interface between LPCVD-SiNx gate dielectric and III-nitride for AlGaN/GaN MIS-HEMTs
期刊论文
Journal of Vacuum Science & Technology B, 2016
作者:
Wang XH(王鑫华)
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2017/05/08
Normally OFF GaN-on-Si MIS-HEMTs Fabricated With LPCVD-SiNx Passivation and High-Temperature Gate Recess
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 2
作者:
Shi, YJ
;
Huang, S
;
Bao, QL
;
Wang, XH
;
Wei, K
收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2017/03/11
Compatibility of AlN/SiNx Passivation With LPCVD-SiNx Gate Dielectric in GaN-Based MIS-HEMT
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2016, 卷号: 37, 期号: 3
作者:
Hua, MY
;
Lu, YY
;
Liu, SH
;
Liu, C
;
Fu, K(付凯)
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2017/03/11
Investigation of the interface traps and current collapse in LPCVD SiNx/AlGaN/GaN MISHEMTs
会议论文
作者:
Yu, Kun
;
Liu, Chao
;
Jiang, Huaxing
;
Lu, Xing
;
Lau, Kei May
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/11/26
AlGaN/GaN MIS-HEMTs
Current collapse
I-V measurements
Interface traps
LPCVD SiNx
Metal insulator semiconductor high electron mobility transistors (MISHEMT)
Passivation layer
Plasma enhanced chemical vapor depositions (PE CVD)
Robust SiNx/AlGaN Interface in GaN HEMTs Passivated by Thick LPCVD-Grown SiNx Layer
期刊论文
IEEE Electron Device Letter, 2015
作者:
Chen XJ(陈晓娟)
;
Wang XH(王鑫华)
;
Huang S(黄森)
;
Zheng YK(郑英奎)
;
Wei K(魏珂)
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2016/05/26
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