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半导体器件及其制造方法 专利
专利号: CN201410484648.0, 申请日期: 2018-09-18, 公开日期: 2016-04-13
作者:  殷华湘;  张永奎;  赵治国;  陆智勇;  朱慧珑
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鳍式场效应晶体管及其制造方法 专利
专利号: CN201410838568.0, 申请日期: 2018-09-11, 公开日期: 2016-07-27
作者:  许淼;  朱慧珑;  赵利川
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一种FinFET结构及其制造方法 专利
专利号: CN201410459571.1, 申请日期: 2018-09-07, 公开日期: 2016-03-16
作者:  尹海洲;  刘云飞;  李睿
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一种CMOS结构及其制造方法 专利
专利号: CN201410459563.7, 申请日期: 2018-09-07, 公开日期: 2016-03-16
作者:  李睿;  刘云飞;  尹海洲
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一种FinFET结构及其制造方法 专利
专利号: CN201410459357.6, 申请日期: 2018-08-10, 公开日期: 2016-04-06
作者:  李睿;  尹海洲;  刘云飞
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半导体器件制造方法 专利
专利号: CN201410454224.X, 申请日期: 2018-07-31, 公开日期: 2016-04-06
作者:  殷华湘;  秦长亮;  马小龙;  王桂磊;  朱慧珑
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鳍式场效应晶体管及其制造方法 专利
专利号: CN201410525045.0, 申请日期: 2018-07-13, 公开日期: 2016-05-11
作者:  殷华湘;  秦长亮;  马小龙;  王桂磊;  朱慧珑
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一种MOSFET结构及其制造方法 专利
专利号: CN201310339819.6, 申请日期: 2018-01-30, 公开日期: 2015-02-11
作者:  尹海洲;  张珂珂
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一种非对称超薄SOIMOS晶体管结构及其制造方法 专利
专利号: CN201310478396.6, 申请日期: 2018-01-09, 公开日期: 2015-04-29
作者:  尹海洲;  张珂珂
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氮化镓器件ESD防护性能研究 学位论文
2018
作者:  孙健
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