QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 金与SiO_2—Si界面处结构缺陷的互作用 期刊论文 兰州大学学报, 1980, 期号: 4, 页码: 40-50 作者:  李思渊;  李寿嵩;  张秀文;  孟益民;  柳南辉 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/04/27 结构缺陷:7868  硅离子:3619  Si界面:2923  非正常价态:2212  互作用:2121  氧离子空位:1404  悬空键:1327  界面效应:1298  正电荷:938  氧化反应:862