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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 STEM multiplication nano-moiré method with large field of view and high sensitivity 期刊论文 NANOTECHNOLOGY, 2021, 卷号: 32, 期号: 47, 页码: 475705 作者:  Zhao, Yao;   Wu, Dongliang;   Zhou, Jiangfan;   Wen, Huihui;   Liu, Zhanwei;   Wang, Qinghua;   Liu, Chao 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2022/03/23 Real-time in situ observation of extended defect evolution near a crack tip in GaSb crystal under thermal loading 期刊论文 APPLIED SURFACE SCIENCE, 2020, 卷号: 515, 页码: 145934 作者:  Yingbin Zhu;   Huihui Wen;   Hongye Zhang;   Zhanwei Liu;   Chao Liu;   Shuman Liu 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2021/06/16 Quantitative evaluation of the interface lattice quality of a strain superlattice by strain analysis 期刊论文 Nanoscale, 2018, 卷号: 10, 期号: 37, 页码: 17567-17575 作者:  Wen Huihui;  Zhang Hongye;  Liu Zhanwei;  Liu Chao;  Liu Shuman;  Yang Xinan;  Liu Fengqi;  Xie Huimin 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/11/15 Stress mapping of a strain superlattice using scanning moiré fringe imaging 期刊论文 Applied Physics Letters, 2018, 卷号: 113, 期号: 3, 页码: 031905 作者:  Huihui Wen;  Hongye Zhang;  Zhanwei Liu;  Chao Liu;  Shuman Liu;  Xinan Yang;  Fengqi Liu;  Huimin Xie 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/11/15 Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images 期刊论文 ultramicroscopy, 2016, 卷号: 171, 页码: 34-42 Hongye Zhang; Zhanwei Liu; Huihui Wen; Huimin Xie; Chao Liu 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2017/03/10 Formation of silicon nanocrystals embedded in high-kappa dielectric hfo2 and their application for charge storage 期刊论文 Journal of vacuum science & technology b, 2011, 卷号: 29, 期号: 2, 页码: 6 作者:  Li, Weilong;  Jia, Rui;  Chen, Chen;  Li, Haofeng;  Liu, Xinyu 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2019/05/12