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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 TA-denseNet: Efficient hardware trust and assurance model based on feature extraction and comparison of SEM images and GDSII images 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2024, 卷号: 95, 页码: 9 作者:  Xiao, Wei;  Zhao, Fazhan;  Zhao, Kun;  Ma, Hongtu;  Li, Qing 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2024/02/20 Scanning electron microscopy  Deep learning  Hardware trust and assurance  Integrated circuit   Powerful-IoU: More straightforward and faster bounding box regression loss with a nonmonotonic focusing mechanism 期刊论文 NEURAL NETWORKS, 2024, 卷号: 170, 页码: 276-284 作者:  Liu, Can;  Wang, Kaige;  Li, Qing;  Zhao, Fazhan;  Zhao, Kun 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2024/02/22 Object detection  Bounding box regression  Loss function design  Focusing mechanism   Novel methods for locating and matching IC cells based on standard cell libraries 期刊论文 MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2024, 卷号: 283, 页码: 12 作者:  Liu, Can;  Wang, Kaige;  Li, Qing;  Zhao, Fazhan;  Zhao, Kun 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2024/02/22 Reverse engineering  Integrated circuits  Scanning electron microscopy  Image processing  Hardware security   Fear memory-associated synaptic and mitochondrial changes revealed by deep learning-based processing of electron microscopy data 期刊论文 CELL REPORTS, 2022, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 28 作者:  Liu, Jing;  Qi, Junqian;  Chen, Xi;  Li, Zhenchen;  Hong, Bei 收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2022/09/19 Simulation of anodizing current-time curves and morphology evolution of TiO2 nanotube arrays 期刊论文 JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY, 2014, 卷号: 18, 期号: 9, 页码: 2609-2617 作者:  Yu, Dongliang;  Zhang, Shaoyu;  Zhu, Xufei;  Ma, Hongtu;  Han, Hua 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2015/09/18 TiO2 nanotube  Anodizing  Electronic current  Oxygen bubble  Growth efficiency