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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 内容类型：专著     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 现行光学元件检测与国际标准 专著 :科学出版社, 2009 作者:  徐德衍;  王青;  高志山;  陈磊;  何勇 收藏  |  浏览/下载：57/0  |  提交时间：2016/11/28 半导体的检测与分析 专著 北京:科学出版社, 北京, 2007 许振嘉 收藏  |  浏览/下载：382/0  |  提交时间：2009/09/19