| 现行光学元件检测与国际标准 | |
| 徐德衍; 王青; 高志山; 陈磊; 何勇; 朱日宏编著 | |
| 2009 | |
| 出版者 | 科学出版社 |
| 中文摘要 | 本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础；光学元件的参数检测和性能检测的现行技术，侧重对特殊元件、光学表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等内容的叙述；介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准（ISO10110）的最新内容和相关的辅助资料。本书附录汇总了光学检测中4个常用的资料及相关的参考书籍。 |
| 索取号 | TH74/21 |
| 页数 | 302p |
| ISBN | 978-7-03-025083-4 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 专著 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/14568]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐德衍,王青,高志山,等. 现行光学元件检测与国际标准[M]:科学出版社,2009. |
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