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科研机构
半导体研究所 [16]
内容类型
期刊论文 [12]
会议论文 [4]
发表日期
2008 [16]
学科主题
半导体材料 [4]
光电子学 [3]
半导体物理 [2]
半导体化学 [1]
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CORC
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共16条,第1-10条
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发表日期:2008
专题:半导体研究所
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Promoting strain relaxation of si0.72ge0.28 film on si (100) substrate by inserting a low-temperature ge islands layer in uhvcvd
期刊论文
Applied surface science, 2008, 卷号: 255, 期号: 5, 页码: 2660-2664
作者:
Zhou, Zhiwen
;
Cai, Zhimeng
;
Li, Cheng
;
Lai, Hongkai
;
Chen, Songyan
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/05/12
Relaxed buffer
Sige film
Lt-ge layer
Strain relaxation
Uhvcvd
Comment on "use of si(+) pre-ion-implantation on si substrate to enhance the strain relaxation of the ge(x)si(1-x) metamorphic buffer layer for the growth of ge layer on si substrate" [appl. phys. lett. 90, 083507 (2007)]
期刊论文
Applied physics letters, 2008, 卷号: 93, 期号: 15, 页码: 2
作者:
Zhou, Zhiwen
;
Li, Cheng
;
Chen, Songyan
;
Lai, Hongkai
;
Yu, Jinzhong
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2019/05/12
Growth and fabrication of algan/gan hemt based on si(111) substrates by mocvd
期刊论文
Microelectronics journal, 2008, 卷号: 39, 期号: 9, 页码: 1108-1111
作者:
Luo, Weijun
;
Wang, Xiaoliang
;
Xiao, Hongling
;
Wang, Cuimie
;
Ran, Junxue
收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2019/05/12
Algan/gan
High electron mobility transistor (hemt)
Si (111)
The influence of low-temperature ge seed layer on growth of high-quality ge epilayer on si(100) by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition
期刊论文
Journal of crystal growth, 2008, 卷号: 310, 期号: 10, 页码: 2508-2513
作者:
Zhou, Zhiwen
;
Li, Cheng
;
Lai, Hongkai
;
Chen, Songyan
;
Yu, Jinzhong
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/05/12
Characterization
Reflection high energy electron diffraction
X-ray diffraction
Chemical vapor deposition
Germanium
Narrow line-width resonant cavity enhanced photodetectors operating at 1.55 mu m
期刊论文
Optics communications, 2008, 卷号: 281, 期号: 6, 页码: 1582-1587
作者:
Mao, R. W.
;
Tsai, C. S.
;
Yu, J. Z.
;
Wang, Q. M.
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/05/12
Resonant cavity enhanced (rce)
Photodetector
Line-width
Free carrier absorption
Influence of v/iii ratio on the structural and photoluminescence properties of in0.52alas/in0.53gaas metamorphic high electron mobility transistor grown by molecular beam epitaxy
期刊论文
Chinese physics b, 2008, 卷号: 17, 期号: 3, 页码: 1119-1123
作者:
Gao Hong-Ling
;
Zeng Yi-Peng
;
Wang Bao-Qiang
;
Zhu Zhan-Ping
;
Wang Zhan-Guo
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/05/12
Molecular beam epitaxy
Semiconducting iii-v materials
High electron mobility transistors
Growth and fabrication of AlGaN/GaN HEMT based on Si(111) substrates by MOCVD
期刊论文
microelectronics journal, 2008, 卷号: 39, 期号: 9, 页码: 1108-1111
Luo, WJ
;
Wang, XL
;
Xiao, HL
;
Wang, CM
;
Ran, JX
;
Guo, LC
;
Li, JP
;
Liu, HX
;
Chen, YL
;
Yang, FH
;
Li, JM
收藏
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浏览/下载:44/0
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提交时间:2010/03/08
AlGaN/GaN
high electron mobility transistor (HEMT)
Si (111)
The influence of low-temperature Ge seed layer on growth of high-quality Ge epilayer on Si(100) by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition
期刊论文
journal of crystal growth, 2008, 卷号: 310, 期号: 10, 页码: 2508-2513
Zhou ZW
;
Li C
;
Lai HK
;
Chen SY
;
Yu JZ
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浏览/下载:54/12
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提交时间:2010/03/08
characterization
The effects of sapphire substrates processes to the LED efficiency - art. no. 68410M
会议论文
conference on solid state lighting and solar energy technologies, beijing, peoples r china, nov 12-14, 2007
Yang, H
;
Chen, Y
;
Wang, LB
;
Yi, XY
;
Fan, JM
;
Liu, ZQ
;
Yang, FH
;
Wang, LC
;
Wang, GH
;
Zeng, YP
;
Li, JM
收藏
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2010/03/09
GaN-based LED
grinding
ray tracing
Promoting strain relaxation of Si0.72Ge0.28 film on Si (100) substrate by inserting a low-temperature Ge islands layer in UHVCVD
期刊论文
applied surface science, 2008, 卷号: 255, 期号: 5, 页码: 2660-2664 part 2
Zhou ZW
;
Cai ZM
;
Li C
;
Lai HK
;
Chen SY
;
Yu JZ
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浏览/下载:67/0
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提交时间:2010/03/08
Relaxed buffer
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