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科研机构
半导体研究所 [3]
北京大学 [1]
物理研究所 [1]
成都山地灾害与环境研... [1]
内容类型
期刊论文 [5]
其他 [1]
发表日期
2006 [6]
学科主题
光电子学 [1]
半导体材料 [1]
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CORC
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共6条,第1-6条
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发表日期:2006
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85
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95
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High-precision determination of lattice constants and structural characterization of inn thin films
期刊论文
Journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
作者:
Wu, MF
;
Zhou, SQ
;
Vantomme, A
;
Huang, Y
;
Wang, H
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/05/12
High speed impact on Zr(41)T(i1)4Cu(12.5)Ni(10)Be(22.5) bulk metallic glass
期刊论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, 2006, 卷号: 426, 期号: 1-2, 页码: 298
Yang, C
;
Liu, RP
;
Zhan, ZJ
;
Sun, LL
;
Wang, WK
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2013/09/17
YIELD CRITERION
PLASTIC-FLOW
FRACTURE
DEFORMATION
MECHANISMS
LOCALIZATION
COMPOSITE
EMISSION
ALLOYS
BANDS
A novel scheme for optical burst switching networks under self-similar traffic and wavelength continuity constraint
其他
2006-01-01
Shan, Liang
;
Xie, Linzhen
;
Li, Zhengbin
;
Xu, Anshi
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2015/11/16
OBS networks
dual-time threshold (DTT)
payload segregator
private subnet
start wavelength
LONG-RANGE DEPENDENCE
FRACTIONAL BROWNIAN-MOTION
PARADIGM
OBS
基于能值分析的四川省生态经济系统可持续性评估
期刊论文
长江流域资源与环境, 2006, 卷号: 15, 期号: 3, 页码: 303-309
杨德伟
;
陈治谏
;
倪华勇(倪化勇)
;
蒋莉
;
廖晓勇
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2010/07/23
生态经济系统
能值分析
可持续性
四川省
High-precision determination of lattice constants and structural characterization of InN thin films
期刊论文
journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
Wu MF
;
Zhou SQ
;
Vantomme A
;
Huang Y
;
Wang H
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:108/0
  |  
提交时间:2010/04/11
X-RAY-DIFFRACTION
BAND-GAP
EPITAXIAL LAYERS
INDIUM NITRIDE
HEXAGONAL INN
CUBIC INN
GROWTH
PARAMETERS
INGAN
PHASE
Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate
期刊论文
journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654
Zhao L (Zhao Lei)
;
Zuo YH (Zuo Yuhua)
;
Cheng BW (Cheng Buwen)
;
Yu JZ (Yu Jinzhong)
;
Wang QM (Wang Qiming)
收藏
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2010/04/11
Si1_xGex
Ge content
composition determination
double crystals X-ray diffraction (DCXRD)
micro-Raman measurement
BAND-GAP
HETEROSTRUCTURES
SUPERLATTICES
ALLOYS
RELAXATION
SCATTERING
THICKNESS
STRAIN
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