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Island diodes triggering SCR in waffle layout with high failure current for HV ESD protection 期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 页码: 17-23
作者:  Zheng, Yifei[1];  Jin, Xiangliang[2];  Wang, Yang[3];  Guan, Jian[4];  Hao, Sanwan[5]
收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2019/04/22
A compact LDMOS DDSCR for HV ESD protections with high robustness and reliability 期刊论文
Solid-State Electronics, 2019, 卷号: Vol.161, 页码: 107640
作者:  Zhuojun Chen;  Wenzhao Lu;  Ming Wu;  Wei Peng;  Yuanyuan Hu
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/13
Diode and RC Co-Triggered 2xVDD-Tolerant Electrostatic Discharge Detection Circuit in Nanoscale Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Technology 期刊论文
2019, 卷号: 14, 页码: 734-739
作者:  Yang, Zhaonian;  Yang, Yuan;  Jing, Kai;  Yu, Ningmei;  Liou, Juin J.
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/20
Statically triggered 3 x VDD-Tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process 期刊论文
2018, 卷号: 78, 页码: 88-93
作者:  Yang, Zhaonian;  Yang, Yuan;  Yu, Ningmei;  Liou, Juin J.
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/20
Impact of the Gate Structure on ESD Characteristic of Tunnel Field-Effect Transistors 会议论文
2018 7TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NEXT-GENERATION ELECTRONICS (ISNE), 2018-01-01
作者:  Yang, Zhaonian;  Yu, Ningmei;  Liou, Juin J.
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2019/12/20
2xVDD-Tolerant ESD Detection Circuit in a 90-nm Low-Voltage CMOS Process 会议论文
2018 7TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NEXT-GENERATION ELECTRONICS (ISNE), 2018-01-01
作者:  Yang, Zhaonian;  Zhang, Yue;  Yu, Ningmei;  Liou, Juin J.
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/20
Improving ESD Protection Robustness Using SiGe Source/Drain Regions in Tunnel FET 期刊论文
2018, 卷号: 9
作者:  Yang, Zhaonian;  Yang, Yuan;  Yu, Ningmei;  Liou, Juin J.
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/20
Investigation of the Double Current Path Phenomenon in Gate-Grounded Tunnel FET 期刊论文
2018, 卷号: 39, 页码: 103-106
作者:  Yang, Zhaonian;  Zhang, Yue;  Yang, Yuan;  Yu, Ningmei
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/20
Insights Into the Power-Off and Power-On Transient Performance of Power-Rail ESD Clamp Circuits 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2017
Lu, Guangyi; Wang, Yuan; Wang, Yize; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03
Low-Leakage ESD Power Clamp Design With Adjustable Triggering Voltage for Nanoscale Applications 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017
Lu, Guangyi; Wang, Yuan; Wang, Yize; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2017/12/03

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