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科研机构
西安交通大学 [2]
北京大学 [1]
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2019 [1]
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2007 [1]
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Device scaling considerations for sub-90-nm 2-bit/cell split-gate flash memory cell
期刊论文
Solid-State Electronics, 2019, 卷号: 152, 页码: 46-52
作者:
Xu, Zhaozhao
;
Liu, Donghua
;
Hu, Jun
;
Chen, Wenjie
;
Qian, Wensheng
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/11/19
2-bit/cell
Device-scaling
Drain induced barrier lowering effects
Source-side injection
Split gates
Threshold voltage modeling of partially-depleted dual-material surrounding gate field-effect transistor
期刊论文
Hsi-An Chiao Tung Ta Hsueh/Journal of Xi'an Jiaotong University, 2013, 卷号: 47, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 50-54+109
作者:
Li, Zunchao
;
Luo, Cheng
;
Wang, Chuang
;
Miao, Zhicong
;
Zhang, Lili
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/03
Carrier transport efficiency
Cylindrical coordinate systems
Drain induced barrier lowering effects
Numerical simulation software
Partially depleted
Short-channel effect
Surrounding-gate
Threshold voltage modeling
Quasi-SOI MOSFETs - A promising bulk device candidate for extremely scaled era
期刊论文
ieee电子器件汇刊, 2007
Tian, Yu
;
Xiao, Han
;
Huang, Ru
;
Feng, Chuguang
;
Chan, Mansun
;
Chen, Baoqin
;
Wang, Runsheng
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/12
CMOS
drain-induced barrier lowering (DIBL)
quasi-SOI
scaling
short-channel effects (SCEs)
SOI
ultrathin
body (UTB)
CMOS DEVICES
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