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Droop Control Strategy Incorporating Coupling Compensation and Virtual Impedance for Microgrid Application 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ENERGY CONVERSION, 2019, 卷号: Vol.34 No.1, 页码: 277-291
作者:  Peng, ZS;  Wang, J;  Bi, DQ;  Wen, YT;  Dai, YX
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/17
Unlocking Bifunctional Electrocatalytic Activity for CO2 Reduction Reaction by Win-Win Metal-Oxide Cooperation 期刊论文
ACS ENERGY LETTERS, 2018, 卷号: 3, 期号: 11, 页码: 2816-2822
作者:  Cai, Z;  Wu, YS;  Wu, ZS;  Yin, LC;  Weng, Z
收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2018/12/25
Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment 会议论文
作者:  Li BH(李彬鸿);  Huang Y(黄杨);  J.Wu;  Huang YB(黄云波);  Li B(李博)
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文
作者:  Li B(李博);  Huang YB(黄云波);  L.Yang;  Zhang QZ(张青竹);  Zheng ZS(郑中山)
收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/05/13
Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2018
作者:  Zhang QZ(张青竹);  Yin HX(殷华湘);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊);  Li B(李博)
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/03/27
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2018
作者:  Zheng ZS(郑中山);  Huang YB(黄云波);  Li B(李博);  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2019/03/28
Surface chemistry in cobalt phosphide-stabilized lithium-sulfur batteries 期刊论文
ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, 2018, 卷号: 256, 页码: -
作者:  Zhong, YR;  Yin, LC;  He, P;  Liu, W;  Wu, ZS
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2018/12/25
Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018
作者:  Yang L(杨玲);  Zhang QZ(张青竹);  Huang YB(黄云波);  Zheng ZS(郑中山);  Li B(李博)
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/03/28
Surface Chemistry in Cobalt Phosphide-Stabilized Lithium-Sulfur Batteries 期刊论文
JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, 2018, 卷号: 140, 期号: 4, 页码: 1455-1459
作者:  Zhong, YR;  Yin, LC;  He, P;  Liu, W;  Wu, ZS
收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2018/06/05
Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1503-1510
作者:  Yang, L (Yang, Ling)[ 1,2 ]
收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2018/09/18

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