QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Effects of rapid thermal annealing on structural, chemical, and electrical characteristics of atomic-layer deposited lanthanum doped zirconium dioxide thin film on 4H-SiC substrate 期刊论文 APPLIED SURFACE SCIENCE, 2016, 卷号: 365, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 296-305 作者:  Lim, Way Foong;  Quah, Hock Jin;  Lu, Qifeng;  Mu, Yifei;  Ismail, Wan Azli Wan 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/02 Atomic layer deposition  Time-of-Flight secondary ion mass  Lanthanum doped zirconium oxide  X-ray photoelectron spectroscopy  Rapid thermal annealing  spectrometry