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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Artificial intelligent matching for scratches of semiconductor wafers based on a K-NN algorithm 期刊论文 SURFACE TOPOGRAPHY-METROLOGY AND PROPERTIES, 2019, 卷号: 7 作者:  Pan, Tingting;  Yang, Jie;  Wu, Wei;  Dung, Zhigang;  Ayinde, Babajide O. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/02 semiconductor wafer  K-NN algorithm  scratches  matching