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基于X光检测的元器件任意形状气泡提取方法 期刊论文
《半导体技术》, 2012, 卷号: 37, 页码: 815-818
作者:  高红霞[1] 禇夫国[1];  万燕英[1] 刘骏[2]
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电子封装元件断层图像的最小二乘拟合三维可视化算法 会议论文
2012中国高端SMT学术会议, 桂林, 2012年11月1日
作者:  李婷[1];  吴忻生[1];  高红霞[1] 刘骏[2]
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