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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Back-Gate Bias Dependence of the Statistical Variability of FDSOI MOSFETs With Thin BOX 期刊论文 ieee电子器件汇刊, 2013 Yang, Yunxiang; Markov, Stanislav; Cheng, Binjie; Zain, Anis Suhaila Mohd; Liu, Xiaoyan; Asenov, Asen 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 Back-gate bias  line edge roughness (LER)  metal gate granularity (MGG)  random dopant fluctuation (RDF)  statistical variability (SV)  thin buried oxide (BOX)  INTRINSIC PARAMETER FLUCTUATIONS  SIMULATION  DECANANOMETER  IMPACT