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Size effect investigation of indentation response of stifffilm/compliant substrate composite structure
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF SOLIDS AND STRUCTURES, 2020, 卷号: 193, 页码: 106-116
作者:
Liu YW
;
Ma HS(马寒松)
;
Wei YG(魏悦广)
;
Chen P
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浏览/下载:138/0
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提交时间:2020/06/22
Stifffilm/compliant substrate composite structure
Indentation response
Gradient effect
Integral transformation
Material length scale
飞秒激光诱导微纳结构调控材料润湿性能
学位论文
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2016
作者:
泮怀海
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浏览/下载:184/0
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提交时间:2016/11/28
飞秒激光
超疏水
超亲水
润湿特性
聚二甲基硅氧烷
硅
菲涅耳透镜
阿妙脉冲
衍射级
Solid-state nanopores fabricated by pulse-controlled dielectric breakdown
会议论文
Chongqing, China, July 18, 2016 - July 22, 2016
作者:
Zhao, Yue
;
Zhou, Daming
;
Wei, Helei
;
Wang, Deqiang
;
Cui, Hong-Liang
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2018/03/16
磁性纳米膜微波测量方法研究
学位论文
2013, 2013
阙永祥
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2016/01/13
微带反射法
复磁导率
磁性纳米薄膜
Microstrip reflection method
Complex permeability
Magnetic nanometer thin film
基于静电力显微镜的绝缘体表面电荷微纳米尺度测量系统
期刊论文
2010, 2010
赵慧斌
;
韩立
;
王秀凤
;
ZHAO Hui-bin
;
HAN Li
;
WANG Xiu-feng
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浏览/下载:4/0
Highly precise nonlinear error calibrating system based on Fabry-Perot interferometer - art. no. 68342X
会议论文
OPTICAL DESIGN AND TESTING III, PTS 1 AND 2, Conference on Optical Design and Testing III, Beijing, PEOPLES R CHINA, Web of Science
Ma, Jichi
;
Li, Yan
;
Yin, Chunyong
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浏览/下载:2/0
Highly precise nonlinear error calibrating system based on Fabry-Perot interferometer
会议论文
Proceedings of the SPIE - The International Society for Optical Engineering, Optical Design and Testing III, Beijing, China, INSPEC
Jichi Ma
;
Yan Li
;
Chunyong Yin
收藏
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浏览/下载:3/0
A novel nano-Moire method with scanning tunneling microscope (STM)
期刊论文
2010, 2010
Zhanwei Liu
;
Huimin Xie
;
Daining Fang
;
Haixia Shang
;
Fulong Dai
收藏
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浏览/下载:4/0
Method of photo-reflectance characterization of strain and active dopant in semiconductor structures
专利
专利号: EP1952122A2, 申请日期: 2008-08-06, 公开日期: 2008-08-06
作者:
CHISM, WILLIAM, W
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/31
AF/PSTM and its application in nanometer material measurement
会议论文
China International Conference on Nanoscience and Technology (ChinaNANO 2005), Beijing, PEOPLES R CHINA, 2005-06-09
作者:
Li, Yinli
;
Zhang, Jian
;
Wu, Shifa
;
Li, Pengfei
;
Pan, Shi
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/27
nanometer material measurement
nanotechnology
SNOM
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