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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11 作者:  Wang, Shu;  Cai, Chang;  Ning, Bingxu;  He, Ze;  Huang, Zhiqin 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2021/12/08 SerDes  SRAM-based FPGA  Single Event Upset  Single Event Functional Interrupt   CMOS图像传感器单粒子效应及加固技术研究进展 期刊论文 核技术, 2020, 卷号: 43, 期号: 1, 页码: 50-58 作者:  蔡毓龙;  李豫东;  文林;  郭旗 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2020/03/13 CMOS图像传感器  单粒子效应  抗辐射加固技术  空间辐射   Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99 作者:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：129/0  |  提交时间：2019/01/03 CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion   Single Event Effects Testing of Xilinx Zynq-7010 SoC with Pu-239 Alpha Irradiation 会议论文 作者:  Du, Xuecheng;  Liu, Shuhuan;  He, Chaohui;  Du, Xin;  Li, Yonghong 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/03 Single Event Functional Interrupt (SEFI)  Single Event Effects (SEE)  System on chip (SoC)   SEU Mitigation Strategies for SRAM-based FPGA 会议论文 International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2011 - Space Exploration Technologies and Applications, Beijing, PEOPLES R CHINA, MAY 24-26, 2011 作者:  Luo Pei;  Zhang Jian 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2014/12/15 SRAM-based FPGA  SEU  scrub  reliability