×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [177]
半导体研究所 [78]
上海微系统与信息技... [64]
西安光学精密机械研... [24]
高能物理研究所 [21]
厦门大学 [15]
更多...
内容类型
期刊论文 [310]
其他 [105]
会议论文 [59]
学位论文 [13]
专利 [11]
外文期刊 [5]
更多...
发表日期
2019 [15]
2018 [5]
2017 [17]
2016 [23]
2015 [10]
2014 [20]
更多...
学科主题
光电子学 [33]
微电子学 [12]
Engineerin... [8]
Instrument... [8]
optics [5]
Instrument... [3]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共503条,第1-10条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214
作者:
Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2]
;
Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2022/04/07
Total ionizing dose irradiation
UTBB FD-SOI
1
f noise
A Compact Optical MEMS Pressure Sensor Based on FabryPerot Interference
期刊论文
Sensors, 2022, 卷号: 22, 期号: 5
作者:
Y. Qi
;
M. Zhao
;
B. Li
;
Z. Ren
;
B. Li and X. Wei
收藏
  |  
浏览/下载:0/0
  |  
提交时间:2023/06/14
Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:
Gao, J.
;
Zhang, Q.
;
Xi, K.
;
Li, B.
;
Wang, C.
收藏
  |  
浏览/下载:25/0
  |  
提交时间:2022/01/24
SEE
SEU
SOI SRAM
C
An electrically switchable anti-ferroelectric bilayer In2Se3 based opto-spintronic device
期刊论文
NANOSCALE, 2021
作者:
Yang, Yaqing
;
Zhang, Liwen
;
Chen, Jun
;
Zheng, Xiaohong
;
Zhang, Lei
收藏
  |  
浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2021/05/31
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
;
He, CF (He, Chengfa) 1
;
Guo, Q (Guo, Qi) 1
收藏
  |  
浏览/下载:39/0
  |  
提交时间:2021/12/06
Threshold voltage
TestingMOSFET circuits
Transistors
Standards
Logic gates
Fluctuations
Buried oxide (BOX)
silicon-on-insulator (SOI)
total ionizing dose (TID)
Design and fabrication of 1×N polarization-insensitive beam splitters based on 2D subwavelength gratings
期刊论文
Optics Communications, 2020, 卷号: 456
作者:
Wu, Gang
;
Huang, Yongqing
;
Duan, Xiaofeng
;
Liu, Kai
;
Ma, Xiaokai
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2020/11/14
Fabrication
Optical beam splitters
Optical instruments
Polarization
Silicon on insulator technology
Silicon wafers
Wavefronts
Beam splitter
High index contrast
Phase contral
Polarization sensitivity
Polarization-insensitive
Silicon on insulator wafers
Sub-wave length grating
The rigorous coupledwave analyses (RCWA)
The influence of channel width on total ionizing dose responses of the 130 nm H-gate partially depleted SOI NMOSFETs
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2020, 卷号: 175, 期号: 5-6, 页码: 551-558
作者:
Xi, SX (Xi, Shan-Xue)[ 1,2,3 ]
;
Zheng, QW (Zheng, Qi-Wen)[ 1,2 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1,2 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiang-Wei)[ 1,2 ]
;
Wei, Y (Wei, Ying)[ 1,2 ]
收藏
  |  
浏览/下载:24/0
  |  
提交时间:2020/07/06
Total ionizing dose
h-shape gate
channel width
partially depleted
Visible light perovskite-coated photonic crystal surface-emitter on SOI
期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2020, 卷号: 35, 期号: 7, 页码: 075019
作者:
Zhishuang Liu
;
Xuyan Zhou
;
Xiaohao Jia
;
Yufei Wang
;
Wanhua Zheng
;
Zhijie Wang
收藏
  |  
浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2021/05/26
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 1, 页码: 374-381
作者:
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Zhao, Peixiong
;
Fan, Xue
;
Huang, Hongyang
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2022/01/19
D filp-flops (DFFs)
heavy ions
radiation hardening
single-event upsets (SEUs)
ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon on insulator (UTBB FDSOI)
Proton and light ions induced SEU effect in a SOI SRAM with gold plated lid
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 5
作者:
Gao, J.
;
Zhang, Q.
;
Li, B.
;
Xi, K.
;
Li, B.
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2022/01/19
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace