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Investigation of current collapse mechanism of LPCVD Si3N4 passivated AlGaN/GaN HEMTs by fast soft-switched current-DLTS and CC-DLTFS
会议论文
作者:
Kang XW(康玄武)
;
Huang S(黄森)
;
Wei K(魏珂)
;
Wang XH(王鑫华)
;
Zhang JH(章晋汉)
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2018/07/20
Fabrication of normally-off AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor high-electron-mobility transistors by photo-electrochemical gate recess etching in ionic liquid
期刊论文
APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2016, 卷号: 9, 期号: 8
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Qin, SJ(秦双娇)
;
Fu, K(付凯)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Li, WY
收藏
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浏览/下载:75/0
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提交时间:2017/03/11
Studies on High-Voltage GaN-on-Si MIS-HEMTs Using LPCVD Si3N4 as Gate Dielectric and Passivation Layer
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 2
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, XD(张晓东)
;
Deng, XG(邓旭光)
;
Li, SM(李水明)
收藏
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浏览/下载:36/0
  |  
提交时间:2017/03/11
16.8 A/600 V AlGaN/GaN MIS-HEMTs employing LPCVD-Si3N4 as gate insulator
期刊论文
ELECTRONICS LETTERS, 2015, 卷号: 51, 期号: 15, 页码: 2
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, XD(于国浩)
;
Tan, SX
;
Wu, DD(吴冬东)
收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2015/12/31
Study on PECVD SiO2/Si3N4 double-layer electrets with different thicknesses
期刊论文
science china technological sciences, 2011
Zou XuDong
;
Zhang JinWen
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
PECVD
SiO2/Si3N4 double layer
electrets
thicknesses
CHARGE STORAGE
SILICON DIOXIDE
INORGANIC ELECTRETS
用于数字微流体器件的介质上电润湿(EWOD)液滴产生器
期刊论文
2010, 2010
曾雪锋
;
岳瑞峰
;
吴建刚
;
胡欢
;
董良
;
王喆垚
;
何枫
;
刘理天
收藏
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浏览/下载:1/0
Fracture Properties of LPCVD Silicon Nitride and Thermally Grown Silicon Oxide Thin Films From the Load-Deflection of Long Si3N4 and SiO2/Si3N4 Diaphragms
期刊论文
journal of microelectromechanical systems, 2008, 卷号: 17, 期号: 5, 页码: 1120-1134
Yang, JL
;
Gaspar, J
;
Paul, O
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2010/03/08
Bulge test
fracture
pooled Weibull analysis
silicon nitride (Si3N4)
silicon oxide (SiO2)
Ultra-sensitive, highly reproducible film stress characterization using flexible suspended thin silicon plates and local curvature measurements
期刊论文
journal of micromechanics and microengineering, 2007
Tang, Yu Jie
;
Chen, Jing
;
Huang, Yu Bo
;
Li, Da Chao
;
Wang, Sha Sha
;
Li, Zhi Hong
;
Zhang, Wen Dong
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
MICROMACHINED BILAYER CANTILEVERS
MECHANICAL-PROPERTIES
STRAIN
Modifying residual stress and stress gradient in LPCVD Si3N4 film with ion implantation
其他
2006-01-01
Shi, Wendian
;
Zhang, Haixia
;
Zhang, Guobing
;
Li, Zhihong
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/12
LPCVD Si3N4
residual stress
stress gradient
ion implantation
thermal annealing
INTERNAL-STRESS
THIN-FILMS
Evaluating interface effect on stresses in thin films by a local curvature metrology with high accuracy and resolution
其他
2006-01-01
Wang, Shasha
;
Chen, Jing
;
Li, Dachao
;
Huang, Yubo
;
Li, Zhihong
;
Zhang, Wendong
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/16
AEMS
residual stress
nano-scale film
interferometry measurement
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