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A Compact Optical MEMS Pressure Sensor Based on FabryPerot Interference
期刊论文
Sensors, 2022, 卷号: 22, 期号: 5
作者:
Y. Qi
;
M. Zhao
;
B. Li
;
Z. Ren
;
B. Li and X. Wei
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提交时间:2023/06/14
130nm部分耗尽绝缘体上硅工艺晶体管总剂量效应及模型研究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:
席善学
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/07/15
总剂量效应
部分耗尽
浅槽隔离
模型
总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:
赵京昊
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/07/15
电离总剂量辐射
热载流子效应
栅氧经时击穿
负偏置温度不稳定性
体效应对超深亚微米SOI器件总剂量效应的影响
期刊论文
电子学报, 2019, 卷号: 47, 期号: 5, 页码: 1065-1069
作者:
席善学
;
陆妩
;
郑齐文
;
崔江维
;
魏莹
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2019/06/21
总剂量效应
绝缘体上硅
体效应
浅沟槽隔离
Compact Model for Tunnel Diode Body Contact SOI n-MOSFETs
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 249-254
作者:
Yongwei Chang
;
Jiexin Luo
;
Jing Chen
;
Lingda Xu
;
Zhan Chai
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/13
MOSFET
circuits
Integrated
circuit
modeling
Semiconductor
device
modeling
Radio
frequency
MOSFET
Analytical
models
Mathematical
model
Body
contact
compact
model
floating
body
effects
(FBEs)
impact
ionization
partially
depleted
silicon-on-insulator
(PD-SOI)
radio
frequency
(RF)
tunnel
diode
body
contact
(TDBC)
A study on effects of total ionizing dose on hot carrier effect of PD I/O SOI PMOSFETs
期刊论文
RESULTS IN PHYSICS, 2019, 卷号: 13, 期号: 6, 页码: 1-5
作者:
Zhao, JH (Zhao, Jinghao)[ 1,2,3 ]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1,2 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1,2 ]
;
Zhou, H (Zhou, Hang)[ 1,2,3 ]
;
Liang, XW (Liang, Xiaowen)[ 1,2,3 ]
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2020/03/20
Hot carrier effect
PMOS
Total ionizing dose effect
体效应对超深亚微米SOI器件总剂量效应的影响
期刊论文
电子学报, 2019, 卷号: 47, 期号: 5, 页码: 1065-1069
作者:
席善学
;
陆妩
;
郑齐文
;
崔江维
;
魏莹
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2020/03/19
总剂量效应
绝缘体上硅
体效应
浅沟槽隔离
γ射线辐照对130 nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响
期刊论文
红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 9, 页码: 214-219
作者:
马腾
;
苏丹丹
;
周航
;
郑齐文
;
崔江维
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2018/10/18
场效应晶体管
可靠性
栅氧经时击穿
Γ射线
Investigating the TDDB lifetime growth mechanism caused by proton irradiation in partially depleted SOI devices
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 81, 期号: 2, 页码: 112-116
作者:
Ma, T (Ma, Teng)
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Zhou, H (Zhou, Hang)
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浏览/下载:55/0
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提交时间:2018/03/14
Reliability
Proton Irradiation
Radiation Induced Leakage Current (Rilc)
Time-dependent Dielectric Breakdown (Tddb)
Total Ionizing Does (Tid)
Direct measurement and analysis of total ionizing dose effect on 130 nm PD SOI SRAM cell static noise margin
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9, 页码: 1-5
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Liu, MX (Liu, Mengxin)
;
Su, DD (Su, Dandan)
;
Zhou, H (Zhou, Hang)
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2017/12/05
Silicon-on-insulator
Total Ionizing Dose
Static Random Access Memory
Static Noise Margin
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