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An efficient test structure for interface trap characterization under BTI stresses 其他
2014-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing
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A monitoring circuit for NBTI degradation at 65nm technology node 其他
2013-01-01
He, Yandong; Hong, Jie; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing
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Multi-Region DCIV Spectroscopy and Impacts on the Design of STI-based LDMOSFETs 其他
2013-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Correlation between MR-DCIV Current and High-Voltage-Stress-Induced Degradation in LDMOSFETs 其他
2013-01-01
He, Yandong; Han, Lin; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing
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A ring oscillator based reliability structure for NBTI & PBTI measurement 其他
2013-01-01
Wang, Xiqing; Hong, Jie; He, Yandong; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing
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Multiregion DCIV: A Sensitive Tool for Characterizing the Si/SiO2 Interfaces in LDMOSFETs 期刊论文
ieee electron device letters, 2012
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing
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Insights into Stress-Induced Degradation of STI-based LDMOSFETs by MR-DCIV spectroscopy 其他
2012-01-01
He, Yandong; Han, Lin; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing; Qi, Congming; Su, Wei
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硅漂移探测器结构设计初步研究 其他
2009-01-01
吴铁彬; 刘真; 吴东梅; 马盛林; 王金延; 于民
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应用地化录井和P-K分析技术综合评价水淹层的探讨 期刊论文
2004
余明发; 姜卫东; 李延芝; 林秋野; 王新玲
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应用地化录井和P-K分析技术综合评价水淹层的探讨 其他
2004-01-01
余明发; 姜卫东; 李延芝; 林秋野; 王新玲
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