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| When LPWAN Meets ITS: Evaluation of Low Power Wide Area Networks for V2X Communications 会议论文
Maui, Hawaii, USA,, November 4-7, 2018
作者: Li YK(李玉珂) ; Linyao Yang; Shuangshuang Han; Xiao Wang; Fei-Yue Wang
  收藏 | 浏览/下载：44/0 | 提交时间：2019/04/21
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| A Teacher-Student Framework for Maintainable Dialog Manager 会议论文
布鲁塞尔, 2018-11
作者: Wang, Weikang; Zhang, Jiajun; Zhang, Han; Hwang, Mei-Yuh; Zong, Chengqing
收藏 | 浏览/下载：14/0 | 提交时间：2020/06/10 |
| A Base Resistance Controlled Thyristor with N-type Buried Layer to Suppress the Snapback Phenomenon 会议论文
作者: Hu F(胡飞); Song LM(宋李梅); Li B(李博); Wang LX(王立新); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：28/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Investigation of the relationship between the total dose effect and thickness of Al2O3 gate dielectric under gamma-ray irradiation 会议论文
作者: Li DL(李多力); Zhu HP(朱慧平); Chen X(陈曦); Zheng ZS(郑中山); Li B(李博)
收藏 | 浏览/下载：23/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Correlation between the Decoupling Capacitor Layouts and Single-Event-Upset Resistances of SRAM cells 会议论文
作者: Zhentao Li; Zheng ZS(郑中山); Zhao K(赵凯); Li B(李博); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：22/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors 会议论文
作者: Kuang Y(匡勇); Bu JH(卜建辉); Li B(李博); Gao LC(高林春); Liang CP(梁春平)
收藏 | 浏览/下载：26/0 | 提交时间：2019/05/10 |
| A low leakage current Tunneling-FET based on SOI 会议论文
作者: Bu JH(卜建辉); Li DL(李多力); Xu GB(许高博); Cai XW(蔡小五); Kuang Y(匡勇)
收藏 | 浏览/下载：35/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment 会议论文
作者: Li BH(李彬鸿); Huang Y(黄杨); J.Wu; Huang YB(黄云波); Li B(李博)
收藏 | 浏览/下载：36/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文
作者: Li B(李博); Huang YB(黄云波); L.Yang; Zhang QZ(张青竹); Zheng ZS(郑中山)
收藏 | 浏览/下载：46/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| Radiation and Annealing Characteristics of Interface traps in SOI NMOSFETs by the Direct-Current Current-Voltage Technique 会议论文
作者: Li YY(李洋洋); Li XJ(李晓静); Li B(李博); Gao LC(高林春); Yan WW(闫薇薇)
收藏 | 浏览/下载：39/0 | 提交时间：2019/05/09 |
