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A rad-hard full-function CDS ASIC for X-ray CCD Applications 会议论文
作者:  B.Lu;  J.Huo;  Y.Chen;  Li B(李博);  Liu HN(刘海南)
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/05/10
A Base Resistance Controlled Thyristor with N-type Buried Layer to Suppress the Snapback Phenomenon 会议论文
作者:  Hu F(胡飞);  Song LM(宋李梅);  Li B(李博);  Wang LX(王立新);  Luo JJ(罗家俊)
收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2019/05/13
Investigation of the relationship between the total dose effect and thickness of Al2O3 gate dielectric under gamma-ray irradiation 会议论文
作者:  Li DL(李多力);  Zhu HP(朱慧平);  Chen X(陈曦);  Zheng ZS(郑中山);  Li B(李博)
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2019/05/13
Correlation between the Decoupling Capacitor Layouts and Single-Event-Upset Resistances of SRAM cells 会议论文
作者:  Zhentao Li;  Zheng ZS(郑中山);  Zhao K(赵凯);  Li B(李博);  Luo JJ(罗家俊)
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/05/13
Radiation Effects on Al2O3 Thin Films 会议论文
作者:  Zhu HP(朱慧平);  Chen X(陈曦);  Zheng ZS(郑中山);  Li DL(李多力);  Gao JT(高见头)
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/05/13
Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors 会议论文
作者:  Kuang Y(匡勇);  Bu JH(卜建辉);  Li B(李博);  Gao LC(高林春);  Liang CP(梁春平)
收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2019/05/10
A low leakage current Tunneling-FET based on SOI 会议论文
作者:  Bu JH(卜建辉);  Li DL(李多力);  Xu GB(许高博);  Cai XW(蔡小五);  Kuang Y(匡勇)
收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2019/05/13
Effect of structural heterogeneity on serrated flow behavior of Zr-based metallic glass 会议论文
San Sebastian, SPAIN, JUN 18-23, 2017
作者:  Liu LH.;  Liu ZY.;  Huan Y(郇勇);  Wu XY;  Lou Y
收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/04/19
Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment 会议论文
作者:  Li BH(李彬鸿);  Huang Y(黄杨);  J.Wu;  Huang YB(黄云波);  Li B(李博)
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文
作者:  Li B(李博);  Huang YB(黄云波);  L.Yang;  Zhang QZ(张青竹);  Zheng ZS(郑中山)
收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/05/13

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