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科研机构
山东大学 [10]
中国医学科学院 北京... [1]
内容类型
期刊论文 [11]
发表日期
2017 [11]
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发表日期:2017
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Intrinsic relationship between photoluminescence and electrical characteristics in modulation Fe-doped AlGaN/GaN HEMTs
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9
作者:
Li, Jianfei
;
Lv, Yuanjie
;
Li, Changfu
;
Ji, Ziwu
;
Pang, Zhiyong
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/GaN HEMT
Fe-doping
photoluminescence
leakage current
Influence of AlN barrier thickness on AlN/GaN heterostructure optical and transport properties
期刊论文
OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS-RAPID COMMUNICATIONS, 2017, 卷号: 11, 期号: 3-4, 页码: 184-188
作者:
Li, Jianfei
;
Lv, Yuanjie
;
Huang, Shulai
;
Ji, Ziwu
;
Pang, Zhiyong
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/11
Strain relaxation
Hall effect
Photoluminescence
Crack
Influence of Different Gate Biases and Gate Lengths on Parasitic Source Access Resistance in AlGaN/GaN Heterostructure FETs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017, 卷号: 64, 期号: 3, 页码: 1038-1044
作者:
Cui, Peng
;
Liu, Huan
;
Lin, Wei
;
Lin, Zhaojun
;
Cheng, Aijie
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/GaNheterostructureFETs (HFETs)
gate bias
gate length
parasitic
source access resistance
polarization Coulomb field scattering
Effect of polarization Coulomb field scattering on device linearity in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2017, 卷号: 122, 期号: 12
作者:
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
;
Lin, Zhaojun
;
Fu, Chen
;
Liu, Yan
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浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/11
Enhanced effect of diffused Ohmic contact metal atoms for device scaling in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2017, 卷号: 103, 页码: 113-120
作者:
Liu, Huan
;
Cheng, Aijie
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Liu, Yan
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/11
AIGaN/GaN HFETs
Diffused Ohmic contact metal atoms
Polarization
Coulomb field scattering
Determination of the strain distribution for the Si3N4 passivated AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2017, 卷号: 111, 页码: 806-815
作者:
Fu, Chen
;
Lin, Zhaojun
;
Liu, Yan
;
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/AlN/GaN HFETs
Strain distribution
Passivation
Polarization
coulomb field scattering
A method to determine electron mobility of the two-dimensional electron gas in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2017, 卷号: 110, 页码: 289-295
作者:
Cui, Peng
;
Lin, Zhaojun
;
Fu, Chen
;
Liu, Yan
;
Lv, Yuanjie
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/GaN HFETs
Electron mobility
Transconductance
Polarization
Coulomb field scattering
Influence of the gate position on source-to-drain resistance in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
AIP ADVANCES, 2017, 卷号: 7, 期号: 8
作者:
Liu, Yan
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Zhao, Jingtao
;
Fu, Chen
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/11
Intrinsic relationship between photoluminescence and electrical characteristics in modulation Fe-doped AlGaN/GaN HEMTs∗
期刊论文
Chinese Physics B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9
作者:
Li, Jianfei
;
Lv, Yuanjie
;
Li, Changfu
;
Ji, Ziwu
;
Pang, Zhiyong
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/12
Determination of the strain distribution for the Si3N4passivated AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
Superlattices and Microstructures, 2017, 卷号: 111, 页码: 806-815
作者:
Fu, Chen
;
Lin, Zhaojun
;
Liu, Yan
;
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/12
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