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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2015    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An Investigation of DC/AC Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, H.; Liu, X. Y.; Xu, N.; He, Y. D.; Du, G.; Zhang, X. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 multi-gate FET  Silicon-on-insulator  hot carrier degradation  reliability  N-FINFETS  INJECTION  MOSFETS  GATE   An Investigation of DC/AC hot carrier degradation in multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, H.; Liu, X.Y.; Xu, N.; He, Y.D.; Du, G.; Zhang, X. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03