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科研机构
半导体研究所 [10]
内容类型
期刊论文 [10]
发表日期
2003 [10]
学科主题
半导体材料 [6]
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发表日期:2003
专题:半导体研究所
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80
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90
95
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Influence of high-temperature ain buffer thickness on the properties of gan grown on si(111)
期刊论文
Journal of crystal growth, 2003, 卷号: 258, 期号: 1-2, 页码: 34-40
作者:
Zhang, BS
;
Wu, M
;
Shen, XM
;
Chen, J
;
Zhu, JJ
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/05/12
Metalorganic chemical vapor deposition
Nitrides
Semiconductor iii-v materials
Influences of reactor pressure of gan buffer layers on morphological evolution of gan grown by mocvd
期刊论文
Journal of crystal growth, 2003, 卷号: 256, 期号: 3-4, 页码: 248-253
作者:
Chen, J
;
Zhang, SM
;
Zhang, BS
;
Zhu, JJ
;
Shen, XM
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2019/05/12
In situ laser reflectometry
Lateral overgrowths
Surface morphology
Metalorganic chemical vapor deposition
Gan
Effects of reactor pressure on gan nucleation layers and subsequent gan epilayers grown on sapphire substrate
期刊论文
Journal of crystal growth, 2003, 卷号: 254, 期号: 3-4, 页码: 348-352
作者:
Chen, J
;
Zhang, SM
;
Zhang, BS
;
Zhu, JJ
;
Feng, G
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/05/12
In situ laser reflectometry
Lateral overgrowth
Metalorganic chemical vapor deposition
Gan
X-ray diffraction analysis of mocvd grown gan buffer layers on gaas(001) substrates
期刊论文
Journal of crystal growth, 2003, 卷号: 254, 期号: 1-2, 页码: 23-27
作者:
Shen, XM
;
Wang, YT
;
Zheng, XH
;
Zhang, BS
;
Chen, J
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/05/12
Buffer layers
X-ray diffraction
Metalorganic chemical vapor deposition
Nitrides
Influence of growth pressure of a GaN buffer layer on the properties of MOCVD GaN
期刊论文
science in china series e-technological sciences, 2003, 卷号: 46, 期号: 6, 页码: 620-626
作者:
Zhang SM
收藏
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浏览/下载:252/65
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提交时间:2010/08/12
gallium nitride
MOCVD
in situ laser reflectometry
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
IN-SITU
SAPPHIRE SUBSTRATE
NUCLEATION LAYERS
FILMS
Effects of reactor pressure on GaN nucleation layers and subsequent GaN epilayers grown on sapphire substrate
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 254, 期号: 3-4, 页码: 348-352
作者:
Zhang SM
收藏
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浏览/下载:230/30
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提交时间:2010/08/12
in situ laser reflectometry
lateral overgrowth
metalorganic chemical vapor deposition
GaN
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
HIGH-QUALITY GAN
BUFFER LAYER
THREADING DISLOCATIONS
TEMPERATURE
EVOLUTION
SURFACE
MOVPE
Influence of high-temperature AIN buffer thickness on the properties of GaN grown on Si(111)
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 258, 期号: 1-2, 页码: 34-40
作者:
Zhao DG
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浏览/下载:299/12
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提交时间:2010/08/12
metalorganic chemical vapor deposition
nitrides
semiconductor III-V materials
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
HIGH-QUALITY GAN
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
INTERMEDIATE LAYER
ALAS
ALN
SURFACES
SILICON
FILMS
Method for measurement of lattice parameter of cubic GaN layers on GaAs (001)
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 250, 期号: 3-4, 页码: 345-348
Zheng XH
;
Wang YT
;
Feng ZH
;
Yang H
;
Chen H
;
Zhou JM
;
Liang JW
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2010/08/12
in-plane strain
lattice parameters
triple-axis diffraction
c-GaN
GROWTH
FILMS
Influences of reactor pressure of GaN buffer layers on morphological evolution of GaN grown by MOCVD
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 256, 期号: 3-4, 页码: 248-253
作者:
Zhang SM
收藏
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浏览/下载:292/3
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提交时间:2010/08/12
in situ laser reflectometry
lateral overgrowths
surface morphology
metalorganic chemical vapor deposition
GaN
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
LIGHT-EMITTING-DIODES
SAPPHIRE SUBSTRATE
NUCLEATION LAYERS
QUALITY
TEMPERATURE
X-ray diffraction analysis of MOCVD grown GaN buffer layers on GaAs(001) substrates
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 254, 期号: 1-2, 页码: 23-27
Shen XM
;
Wang YT
;
Zheng XH
;
Zhang BS
;
Chen J
;
Feng G
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:111/0
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提交时间:2010/08/12
buffer layers
x-ray diffraction
metalorganic chemical vapor deposition
nitrides
VAPOR-PHASE EPITAXY
NUCLEATION LAYERS
CUBIC GAN
(001)GAAS SUBSTRATE
STRAIN RELAXATION
TEMPERATURE
DEPOSITION
QUALITY
DIODES
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