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近代物理研究所 [5]
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Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:
He, Ze
;
Zhao, Shi-Wei
;
Liu, Tian-Qi
;
Cai, Chang
;
Yan, Xiao-Yu
收藏
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浏览/下载:65/0
  |  
提交时间:2022/01/12
Double interlocked storage cell (DICE)
Error detection and correction (EDAC) code
Heavy ion
Radiation hardening technology
Single event upset (SEU)
Static random-access memory (SRAM)
Design and verification of multiple SEU mitigated circuits on SRAM-based FPGA system
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 7
作者:
Yu, Jian
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
Gao, Shuai
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:25/0
  |  
提交时间:2022/01/24
Heavy ions
Irradiation
Hardened
Single event upset
Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:
Wang, Shu
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
He, Ze
;
Huang, Zhiqin
收藏
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浏览/下载:18/0
  |  
提交时间:2021/12/08
SerDes
SRAM-based FPGA
Single Event Upset
Single Event Functional Interrupt
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13
作者:
Ke, Lingyun
;
Zhao, Peixiong
;
Liu, Jie
;
Fan, Xue
;
Cai, Chang
收藏
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浏览/下载:108/0
  |  
提交时间:2019/11/10
FPGA
radiation hardening
single event upsets
heavy ions
error rates
Implementation and verification of different ECC mitigation designs for BRAMs in flash-based FPGAs
期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 页码: 9
作者:
Yang, Zhen-Lei
;
Wang, Xiao-Hui
;
Zhang, Zhan-Gang
;
Liu, Jie
;
Su, Hong
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2018/05/31
single event effects
flash-based FPGAs
BRAMs
error correcting codes
Hamming codes
BCH codes
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